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小序：本文讨论的问题，是常规RT方法老的理论问题，之所以还写文章“纠缠”它，是因为近来有朋友在短信提到它，希望此文有点参考价值。
1 概述
C.G.Pollitt等人于1962年至1975年在《英国无损检测》等杂志上发表了一些文章，声称他们在一系列假定后，依据“等体积原则”(？)推导出了各种像质计(包括类似裂纹的线槽式像质计)灵敏度公式，并列表证明：类似裂纹的线槽深度或其最大可检角的计算值与实测值非常接近(国内介绍资料见《射线检测技术》1997版第14至25页)。所谓“裂纹灵敏度公式”的核心，是丝型和线槽型像质计可检出的相互关系式，“裂纹灵敏度”是指由最小可见丝径推算出单位长度上的线槽体积，现摘抄如下：
d.w=0.8φ2÷(1+φ/Ut) (1)
式中：d—可发现线槽的深度(或称高度，线槽沿壁厚方向上的尺寸)；
w—可发现线槽(平行缝隙)的宽度；
φ—底片上最小可识别金属丝径；
Ut—射线照相总不清晰度。
对于这些灵敏度公式，强天鹏先生主编的《射线检测》中有这样的叙述：“这些内容目前看来已经不那么重要了”(该书第90页)；“对裂纹类缺陷，检出率与像质计灵敏度对应关系并不好”，并做了具体分析(该书第94页)。我同意强先生的看法，但否定的态度更强烈一些，故而写了此文。由于我手头缺少相关外文资料，如有不当，请专家和读者朋友指正；也希望就此问题开展讨论。
2 我持否定态度的理由
1)公式(1)实际上是推导了金属丝像质计和沟槽式像质计间检出的相互关系，把它称为“裂纹灵敏度公式”，是不确切的。理由是：自然裂纹是和人工线槽是不同的。首先，自然裂纹在大体走向上有局部的弯折或大的倾斜，在横截面内的大尺寸不一定为垂直高度h；第二，由于裂纹有局部弯折或倾斜，检验角θ也是不确定的；第三，裂纹缝隙两个面也不一定是平行的，有的表面开口的浅裂纹，截面可能是三角形的，因此，宽度W沿走向上是不均匀。由于以上三个理由，所以裂纹在单位长度上的体积ΔV，及其投影面积ΔA，都可能是不准确的。
2)由于不同类别胶片、射线照相颗粒度对裂纹检出影响很大，不可忽略。而C.G.Pollitt等人恰恰在此问题的假定上犯了错误。日本《射线探伤B》的表2.1显示：不同类别片、屏组合，头4次像质计灵敏度均相同(丝径均为0.2mm)，但对同一试件的裂纹检出率却不相同。
3)各种像质计可检出的关系，实在没有进行换算的必要，同时摆上不就行了么？
由于上述因素，使公式(1)失去了可应用价值。现在业界共识是：〝像质计灵敏度(包括线槽式像质计)和自然裂纹检出灵敏度两者之间没有定量的对应关系。〞。
3 该公式也有可贵之处
这个公式是40多年前提出的，我们应该对早期开拓者们的勇于探索精神表示尊重和钦佩，但指出这个公式的局限性或错误，也是我们对后学者的责任。我认为这个公式的可贵之处在于：当照射角θ≈00时，裂纹可否被检出，决定因素主要是：WXd。既使用技术等级很差的方法，也可能检出较宽(W大)、较深(d大)的裂纹。
