一次声束宽度测量记录

1 日期

2012年5月18日。

2.反射体

CSK-ⅢA试块上埋深30mm的Φ1X6短横孔

3.测量方法

探头声束大体垂直于埋深30mm、Φ1X6短横孔，在试块上前后移动，找出其回波幅度最高点，调至满屏高的80%。然后，前移探头，等波幅降为40%，记下探头位置X1;然后，后移探头，等波幅降为40%，记下探头位置X2。X1和X2之间的距离x，即认为它是:某型号探头，在埋深30mm处，平行于探头长度方向上的声束宽度。

4.测量结果

（1）探头规格2.5P10X10K1(实测K1.05)，测量结果x=8mm。

（2）探头规格2.5P8X12K2(实测K1.93)，测量结果x=28mm。

5. 关于测量结果问题讨论

(1)第一个试验结果，晶片尺寸为10X10mm，而声束宽度x却为8mm，为什么声束-6dB宽度会小于晶片尺寸呢？或是探头前后移动距离，并不等同于声束宽度？还是测量有问题？

(2)两个试验的探头在楔块中的第一零值半扩散角θo，可以认为大致相同。

Sinθo≈1.22(λ/D)

但却因K值不同，在钢中的射束宽度竟差20mm。为何探头K值对测量结果---声束宽度，影响如此之大？

6.本次测量存在问题

(1)ASME V B-466要求:测声束扩散的反射体为横孔端的半球孔(RBHs)。而我们使用了Φ1X6短横孔，估计会有误差。但不知误差多大？

(2)未测埋深30mm处，平行于探头宽度方向上的声束宽度。因为用哪种现有试块上的反射体，才好呢？尚不知晓。

7.备注

测量操作者资质:UT-Ⅲ级。