讨论:DAC曲线和距离波幅曲线

热度 22已有 3421 次阅读2012-5-12 06:01 | 曲线

1问题的提出

笔者认为: 这是两个重要的、但又浅显得无法再浅显的术语。然而却有如下问题:

1.1 GB/T12604.1--2005《无损检测 术语 超声检测》

该标准中,没有“距离波幅曲线”这-术语,其13.4条有如下定义:

距离幅度校正曲线 

DAC

建立在距离不等但尺寸相同的反射体回波峰值幅度响应的基础上的参考曲线。

从这一定义上看,DAC曲线与距离幅度校正曲线”是同义词,那么,DAC曲线(距离幅度校正曲线)和距离波幅曲线是什么关系呢?标准规定并不清楚。

1.2 JB/T4730.3

JB/T4730.3使用了这一术语,但没有定义。

1.3 UT(2008)教材

没讲DAC曲线,仍把横孔反射测得的曲线称为AVG曲线的特例。这显然与GB/T12604.1--200513.3条定义不符:

DGS 

AVG 

利用DGS图,以平底孔表示来自一反射体回波高度,按圆盘形反射体的当量回波高度给出当量回波的方法。

1.4 ASME V

以平底孔和长横孔(反射体)回波高度的曲线,统称为DAC曲线。这显然也与上述我国标准GB/T12604.1--200513.3条定义有些不谐调。

怎么办?笔者认为,修改后的GB/T12604.1—2005,或JB/T4730.3-2005,应明确给这两个术语定义,并明确它们的关系。下面是我尝试下的定义,权且当作抛砖引玉吧。

2 我的定义和释义

2.1 我的定义

2.1.1距离波幅基准曲线

DAC曲线

斜射波从距离不等但尺寸相同的反射体(一般为横孔)上测得的回波峰值幅度曲线。它有两种表示方法,即dB法和面板波幅法。

2.1.2距离波幅曲线

DAC法曲线

依据DAC曲线,按标准确规定做出的一组(三条)距离波幅关系曲线,用以进行缺欠回波幅度所在区域评定。

2.2我的释义

2.2.1 关于“距离波幅基准曲线(DAC曲线)

(1)“基准曲线” 指直接从规定反射体上测得的距离波幅曲线,如从Φ2X40孔或Φ1X6孔上测得的曲线。它是由GB/T12604.1--200513.4距离幅度校正曲线定义演化而来的。

(2)“斜射波”指斜探头发射的超声波,波束轴线与扫查面有一定夹角,但又不垂直,通常指横波。

(3)距离不等”可理解为:声程不等,深度不等,跨距不等。

(4)尺寸相同的反射体(一般为横孔)”,我国标准为横孔(SDH)。笔者注:ASME V规定除横孔外,还有沟槽,还有直射波的平底孔。

(5)dB法表示的距离波幅基准曲线”,通过调节衰减或增益,使不同距离(深度)的横孔的回波,在面版上的波幅不变(通常为满屏的80%),以仪器储存的dB数为纵坐标,以横孔不同距离(深度)为横坐标的关系曲线。

(6)面板波幅法表示的距离波幅基准曲线”, 仪器储存的dB数不变,以不同距离(深度) 的横孔的回波峰值,在面版上做出标记,连接各峰值点的曲线。

2.2.2 关于“距离波幅曲线(DAC法曲线)

(1)距离波幅曲线不是DAC曲线,它是依据DAC曲线,按标准的规定,做出的一组距离波幅关系曲线。JB/T4730.3规定:要做评定定量判废一组(三条)曲线,见该标准图19(笔者注:ASME V要求做DAC面版曲线,然后衰减器储存的dB数减掉14dB,即基准线的20%,进行检测,所以它的距离波幅曲线还是一条曲线。)

(2)DAC曲线和DAC法曲线,虽仅有一字之差,含义却不全相同,前者是后者的基准。另外,因为DAC曲线有两种表示方法,即dB法和面板波幅法,所以DAC法曲线也自然有两种表示方法。

如前述,此文目的在于抛砖引玉,希望距离波幅曲线有个定义,而并非认为我的定义才是对的。当否?望沟通!

2012远东论坛年会召开在即,笔者借此文预祝盛会圆满、顺利、成功!


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发表评论 评论 (8 个评论)

回复 luolang1314 2012-5-12 09:02
(2)“斜射波”指斜探头发射的超声波,波束轴线与扫查面有一定夹角,但又不垂直,通常指横波。.....我想的是TOFD斜射纵波在发现缺陷有很多优势,在普通A-SCAN当中,能否参照横波DAC法曲线建立纵波DAC法曲线?由于转换横波的影响,会对一次波后面的信号有所影响。但一次波前面的信号,理论上应该有较好的缺陷检出率(POD)。常规CSK试块主要针对横波探头,对于斜射纵波探头不利。主要是宽度不够,边缘效应较大。我在TOFD标定试块上试图做DAC曲线,但是横通孔直径并不是一致的(孔径逐渐增大)。不知道有没有人做过这方面的研究。之所以做这方面的研究,是因为制造行业购买设备费用较贵,且一旦购买,再次购买不同功能的设备更加困难。开发旧设备的新功能,或者进行拓展应用,不失一个权宜之计。不过,以前的超声设备,由于仪器技术方面的原因,拓展还是有很大困难。
回复 梁金昆 2012-5-12 10:34
谢谢luolang1314先生参与讨论!我读了您不少帖子,认为质量很高。至于斜射纵波,我想可以做DAC曲线,孔径随厚度增大,不是问题,ASME V就规定: 孔径随厚度增大。他们还是要求制作DAC曲线的。当然,他们的试块与咱们不同。问题之一,如您指出的,通孔长度(试块厚度)偏小。还有,如丁伟臣先生多次指出的:我国标准孔径过小(反射孔径应大于2倍波长,适应纵波的孔径应更大),可能混淆了反射波和衍射波。至于购买新仪器,开发旧设备问题,我的小检测单位,更是同样心境,希望多些指导性研究。望多沟通!
回复 梁金昆 2012-5-12 15:12
luolang1314先生,请解释您说的:“由于转换横波的影响,会对一次波后面的信号有所影响。但一次波前面的信号,理论上应该有较好的缺陷检出率”。我弄不明白。
回复 丁伟臣 2012-5-12 23:14
DAC和AVG两种不同的修正由于扩散衰减引起显示定量的方法。
DAC主要用于测量有长度的,或换句话说,与声束直径相比,某一方向上大于声束直径的缺陷;而AVG法主要用于定量缺陷的实际尺寸较声束直径小的缺陷。
回复 luolang1314 2012-5-13 20:23
梁金昆: luolang1314先生,请解释您说的:“由于转换横波的影响,会对一次波后面的信号有所影响。但一次波前面的信号,理论上应该有较好的缺陷检出率”。我弄不明白。 ...
TOFD就是利用斜射纵波法检测缺陷,不同的是采用一发一收探头进行而已。TOFD检测设备虽然比普通超声设备在信号上要好一些,但以前就有人利用普通超声采用一发一收斜射纵波探头进行普通超声检测,只不过,用的探头没有现在的好。采用单斜纵波探头进行检测,缺陷检出率比TOFD双探头可能会低一些,但由于在探头上的进步,比斜射横波检测情况还是要好些。特别是对粗晶材料,横波衰减较为严重。由于没有试验支撑,只有定性分析。所以,有点武断。
回复 luolang1314 2012-5-13 20:37
PAUT、TOFD以及可记录超声检测,虽然都有编码器,但是传统超声锯齿形扫差、斜平行扫差以及转角扫差,个人感觉都不是编码器及电子扫描能实现的。但是,手工超声,人的因素,机器的因素过于重要了一点。
回复 梁金昆 2012-5-14 10:19
谢谢解释!美国ASME.V允许使用斜射纵波检测粗晶材料,原因是纵波波长长。但波长长自然也有其缺点。我们在使用斜射纵波检测方面多做些试验,还是应该的。我国的NDT业,似乎在常规专业上缺少一些必要试验,对基础理论不屑研究,我感到好像有些浮燥。也许,这是个错觉,说明我不能与时俱进了!
回复 wjjxuey 2012-6-12 17:46
就国外的标准而言,自身也不统一,有说Distance-Amplitude-Correction Curve (EN 12680-1,5.5.3.1)的,也有说Distance-Amplitude-Curve(AWS D1.1 K6.2.2,EN1714 10.2,EN10228-3 7.4等),国内理解个人以为是后者

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