UT琐记: 曲面试块

热度 13已有 988 次阅读2012-4-16 16:02

                -----好帖共赏析

原帖

77k7777先生在“JB/T4730修订”区发表了关于曲面对比试块的曲率》的帖子,内容如下:

1JB/T4730.3-2005-5.1.6.2

曲面工件(直径小于或等于500mm)对接焊接接头的超声波检测

JB/T4730.3-2005-5.1.6.2.(C)

环缝检测时,对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的0.91.5倍。

2GB11345-89-10.3.2

环缝检测时,对比试块的曲率半径为探伤面曲率半径0.91.5倍的对比试 块均可采用。

3ASME-VT-434.1.7.2

当在检测面直径等于或小于20in.(500mm) 的材料上检测时,应使用曲面试块。除了本章其他叙述外,一块单一曲率的基准试块可以用于工件曲率范围为基准试块直径0.91.5倍的检验。例如直径为8in.(200mm)的试块可以用于检验曲面直径范围自7.212in.(180300mm)的检验。(其余内容见ASME-V

以上3条标准条款所题及的内容都是曲面工件对接接头超声波检测时,关于曲面对比试块曲率的选取的,从文字的表述来讲,第(1)、(2)条的意思完全相同,但与第(3)条的意思却完全相反。

从我个人的理解来讲,第(3)条的意思应该合理一些,因为作为标准应该是统一的。我的意思是说在标准当中应该是一个试块适用于一定范围内的工件,而不是一定范围内的试块可以去用于一个单独的工件,这样会使的结论产生分歧。不知我的理解是否正确,欢迎各位老师指正。

我的赏析

2.1  谁适应谁

77k7777先生的观点是对的。一个单位只能备少数几块试块,当然要首先考虑试块适应的工件直径范围了,而这正是ASME V独到之处。例如:

(1)试块1直径d=334mm(半径r=167mm)

适应工件直D=(0.9—1.5)d=300-500mm

(2)试块2直径d=200mm(半径r=100mm)

适应工件直径D=(0.9—1.5)d=180-300mm

(3)……

而我国标准的规定,则反映了思维逻辑不大清楚。

2.2 学习发达国家标准的态度

中国标准学国外标准,首先要态度老实、科学,先不要忙于创新。以下列条文为例吧:

1JB/T4730.3-2005-5.1.6.2

曲面工件(直径小于或等于500mm)对接焊接接头的超声波检测

JB/T4730.3-2005-5.1.6.2.(C)

环缝检测时,对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的0.91.5倍。

3ASME-VT-434.1.7.2

当在检测面直径等于或小于20in.(500mm) 的材料上检测时,应使用曲面试块。

对比而言,什么时候使用曲面试块呢?ASME-V要明确的多,而JB/T4730.3规定了曲面工件(直径小于或等于500mm)对接焊接接头的超声波检测。那么,我要问: 曲面直径为560mm的工件检测使用不使用曲面试块呢?根据ASME-V很好答复,不应使用;而根据JB/T4730.3,我的答复是:没有规定!有人说:“没有规定,就等于不应使用,何必吹毛求疵呢?”我说:“既然是学人家的东西,为什么不老老实实地学,反要画蛇添足呢?”我以为:“不应使用”和“没有规定”,虽然隐含意思可能相近,却反映出了标准的水平高低!


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发表评论 评论 (8 个评论)

回复 77k7777 2012-4-17 13:57
谢谢梁老的理解与支持!前辈就是前辈!!!
回复 梁金昆 2012-4-17 15:59
谢谢以上朋友鼓励!这个曲面试块条文,JB/T4730.3-2005是照搬的GB11345-89,我在此是向编GB11345-89的老友们提了意见。他们也都老了。希望这次标准修订能注意这些微小地方!!!
回复 liuhonghui 2012-4-18 09:52
ASME在小于500mm试块曲率的描述好像也不是很科学,在2010ASME附录G给出了大于500mm曲率的换算系数,从而查图求的需要补偿耦合dB值,这与探头尺寸,耦合剂,晶片材料等有关。难道小于500mm曲率的就不许耦合补偿了?例如“例如直径为8in.(200mm)的试块可以用于检验曲面直径范围自7.2in.(180mm)的检验”,难道就不需要耦合补偿了?
    因此4730和ASME都有一个缺点,两个人对同一个工件编写检测工艺时,因为制作或选取的试块不同,可能会出现两个结果,一个认为检测合格,另一个认为检测不合格。
    如果对不同标准出现两种结果可以理解的话,对同一标准出现两种结果,有谁来协调呢?
回复 梁金昆 2012-4-18 11:23
榭谢liuhonghui先生参与讨论!您的意见,可能是对的。2010 ASME V第4章附录G弄出个临界半径Rc出来,意思是在平面试块上调好灵敏度,再根椐R/Rc,查图,增益若干dB,去探曲面工件。因为我弄不明白Rc的所以然,无法深入讨论,很抱歉!
回复 liuhonghui 2012-4-18 12:00
谢谢梁老点拨。但可以肯定的是4730的叙述今后要修正,与ASME的叙述成了倒数关系,也就是0.67-1.1了,意味着一个试块可以检测是他半径0.67倍的工件了,而不需要任何补偿,ASME才允许0.9倍不需要补偿。我还一个想法,4730修订不规定覆盖的上限,由企业自行解决,可否?
回复 梁金昆 2012-4-18 14:20
真是,我倒要谢谢liuhonghui先生的点拨了!ASME V认为受检曲面直径小于500mm时,才用曲面试块;对于直径大于500mm的受检曲面,虽然可用平面试块,还有个耦合补偿问题。还有,0.9-1.5的倒数问题,我也没重视,而您的观点是正确的。看来,咱们的讨论,很有意思,谢谢了!!同时希望我们的讨论,有利于JB/T4730.3的修订。
回复 梁金昆 2012-4-19 09:15
小结:《曲面试块》的讨论,说到底是个耦合问题。关于系数0.9—1.5的问题,我认为:
(1)ASME V的观点----正确,即:
在其它条件相同时,用直径200mm试块确定的扫查灵敏度,去检查直径300mm的受检工件,可以,因为直径大了,耦合条件更好了,实际的扫查灵敏度提高了。但用于工件直径超过300mm的情况,扫查灵敏度就太高了,不可以了。
相反,在其它条件相同时,用直径200mm试块确定的扫查灵敏度,去检查直径180mm的受检工件,勉强可以,但因直径小了,耦合条件变差了,实际的扫查灵敏度差一些了。但用于工件直径小于180mm的情况,实际扫查灵敏度就太低了,不可以了。
(2)JB/T4730.3的观点---欠妥,即:
工件半径100mm,在其它条件相同时,可用半径为150mm试块确定的扫查灵敏度,然后去检查半径100mm的工件,规定虽可以,但因为直径小多了(1/1.5=0.67),耦合条件差多了,实际的扫查灵敏可能低多了。这个规定可能不负责任!
相反,在其它条件相同时,用半径90mm试块确定的扫查灵敏度,去检查半径100mm的受检工件,自然可以,因为直径大了,耦合条件更好了,但0.9的倒数1.1,似乎允许范围又太小了!
回复 阿黃 2012-4-19 19:59
當有條件時(有錢時)按實際尺寸1:1做最好!

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