2017-1-16,外圆周向检测方法总结汇总

已有 493 次阅读2017-1-16 15:19 |个人分类:学习笔记| 检测

近两日一直在看关于外圆周向检测方面的论文,对于理论知识,已掌握并学习,对理论推到及数学模型认可。实际验证有偏差,由于检测器材不全,无法具体给出偏差原因。
外圆周向检测常应用于无缝管检测,筒体纵缝检测等。外圆周向检测牵扯到检测系统的校准和缺陷定位的修正,都是检测难点。下面就读过的论文以及教材的内容进行分析总结。
1、检测系统的校准:
1.1、使用教材方法校准:
采用周向曲率探头在CSK-IA试块的端角进行滑动,找最高波,其目的确定入射点。
K值校准可采用棒材端面试块,通过实际测量S、已知R及R-H,确定K值及调节扫描基线。
1.2、双弧单孔法:
对于外圆周向检测,两大关键点:1、保证管内全横波,2、至少保证与内壁相切,相割最好。基础知识重新复习了一下,SNELL定律。未完。。。
CAD画了,试块的制作过程以及发现的问题,上传以便有时间整理。

此处重点说明,双弧单孔试块的制作以及应用,其实也是道听途说,只意在今后自己查看方便。

制作方法(举例φ60*5):

a.在钢板上画圆φ60,画好后经过圆心做垂直线.

b.在垂直线与圆周相交的点,画φ50圆,

c.φ60与φ50相交的部分即为试块的截取部分。

d.φ60(R=30)为检测面的曲率,φ50(R=25)为校准面.

e.在试块上开通孔(用于测定K值)。

试块的使用:

首先在R=25圆弧面上测定扫描基线即T0,把探头延时先调节出去。调节出去后声程是准确的了。

声程S为设备读数,R=30半径,短边R-H(30-10.34)

已知三边求夹角,余弦定理:cosβ=(s^2+R^2-(R-H)^2)/2*s*R;     即可求出探头K值。

灵敏度校准根据实际要求,是按刻槽还是孔。

双弧单孔法,应注意如下问题,如果曲率大不太适宜,曲率大那么要求试块也大不方便拿,另外有个最大校准角度的限制,即所用的探头最大角度,试块是否能满足,看试块制作过程图即可理解。

1.3、单弧双孔法(也可以引申为RB-L试块的应用):

1.3.1    试块的制作:

参考RBL试块。

试块的应用:

如上图本试块的使用过程如下:

1、K值的校准(即β角)

2、前沿的计算

3、扫描基线的调节。

该方法实验室,实践,发现所测探头K值和标称差距很大,检测结果有小误差。

现试块使用过程和计算过程做如下详述:

在试块上找到孔1和孔2的最高回波,测定弧长1和弧长2.

L1=L3,此处为思考问题的关键点,即假设同一圆周上也有该点的存在,即L1=L3.

那么L2-L1也等于L2-L3,求出的弧长即为θ角对应的弧长。

1、根据弧长公式可求得θ角。L2-L1=N*π*R/180;   得到结果N即为θ角。

2、求得θ角后,即可根据余弦定理求得对应的斜边。

3、根据正弦定理,即可求得α角。

4、两个互补角正弦值相等,根据正弦定理求得β角,即K值。

5、α=β+γ;即得γ角,根据弧长公式即可得到γ角对应弧长,该弧长-实测弧长1即为前沿值。


2、外圆周向检测定位的修正:

外圆周向检测存在定位的修正,如下图所示:

如上图可见,外圆周向检测进行深度定位时,给出的水平和深度为入射点平行面的深度和水平,并非缺陷真实的深度和水平。

上图利用CAD画,可以看出d1的高度大于d2的高度,我们需要的缺陷实际深度为d2.

所以可以根据已知量进行修正

d2=R-{[(R-d1)^2+l^2]^0.5}          弧长即为水平修正,弧长根据弧长公式计算。

3、定位修正不可应用于封头检测修正

封头检测修正不仅牵扯到曲面修正还有几何形状修正。

如上图遇到此类活,首先按照曲面纵缝进行修正,修正后得到的是L1与d,并非真正的缺陷位置,d2才是我们需要的真实深度。

经过曲面修正后,得到的是相对于圆的定位,可以看绿线部分即为圆的虚拟延长线。我们需要的是焊缝以下的深度而非虚拟延长线以下的深度。

此处应进行作图法修正。


以上为2016.1.10-2016.1.16号期间研究的一些小东西,看了4篇论文,作为总结性东西,文字较散,想到哪说到哪,意为自己日后观看,可以理解。



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