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1、两种扫查方法的比较,优点和缺点
常规超声的基本扫查方法是锯齿扫查。相控阵的基本扫查方法是沿线扫查。
相控阵为什么要用沿线扫查作为基本扫查方式呢?因为沿线扫查容易实现检测结果成像。
相控阵能不能采用锯齿扫查呢?当然是可以的,但是成像就比较困难。
沿线扫查比锯齿扫查的检测速度快,容易实现扫查的自动化或半自动化。
锯齿扫查比沿线扫查覆盖范围大,手工操作比较方便。
如果利用锯齿扫查+相控阵电子扇扫描,得到的缺陷反射回波波幅最高(想一想,为什么?)。
如果利用沿线扫查+相控阵电子扇扫描,所需的探头移动区最小。
2、沿线扫查操作与锯齿扫查的一个重要不同点
沿线扫查操作与锯齿扫查的一个重要不同点是:前者不寻找最高波。
为什么沿线扫查操作不寻找最高波?因为采用沿线扫查的目的是实现自动化检测、快速检测、大批量检测和成像检测,如果规定要寻找最高波,上述四个目标都无法实现。
由于不寻找最高波,沿线扫查和锯齿扫查检测得到的信号波幅肯定不一样。由于脉冲反射法超声的缺陷定量是依赖信号波幅的,因此可以断言,两种扫查方法对缺陷的定量结果是不同的。
沿线扫查与锯齿扫查在缺陷定量方面存在差异,对产品质量安全是否有影响?制订标准时焊缝质量分级部分是否要考虑这一因素?需要三思而后定。
3、相控阵的灵敏度设置应该用什么试块?
常规超声的灵敏度设置在对比试块,例如CSK-ⅡA,CSK-ⅢA上进行。设置灵敏度时需要用手按住探头,在试块上前后反复移动寻找横孔的最高波。这种操作方式实际上模仿了锯齿扫查的操作过程。
相控阵的基本扫查方式是沿线扫查,其灵敏度设置如果模仿锯齿扫查的操作在对比试块上进行是否合适?我认为不合适!理由很简单,工件上的相控阵检测不是这样扫的。
我认为:正因为相控阵技术是以沿线扫查方式对批量工件实施检测的,所以其灵敏度设置应该按沿线扫查方式操作,这样就不能使用CSK-ⅡA,CSK-ⅢA之类的对比试块,而应该使用可以进行沿线扫查操作的试块,最好使用模拟试块。
4、相控阵的模拟试块应该是什么样子?
这里说的模拟试块是指用焊接试板加工的试块,也就是说试块上有模拟工件结构的焊缝。模拟试块的材质、尺寸、形状、焊缝坡口与工件应相同或相近,在模拟试块的焊缝上不同位置钻几个横孔用来设置灵敏度。设置灵敏度时,探头应连接编码器按沿线扫查方式在试板上扫过去。
5、用模拟试块设置相控阵的灵敏度有什么好处?
用模拟试块和沿线扫查方式来设置灵敏度有很多好处:首先是不再模仿锯齿扫查去寻找最高波,实际在工件中的扫查方式与设置灵敏度的扫查方式完全一致,都是沿线扫查,实际检测在工件中的灵敏度与模拟试板中的灵敏度完全一样;其次试块上不同位置的横孔可以给出焊缝不同位置的信号波幅,因此可以检查覆盖焊缝的声场情况和不同位置的灵敏度;第三是消除了材质、晶粒度、扫查面粗糙度的影响;第四是可以得到非相关信号,例如焊缝结构反射信号图谱上的位置,有助于数据判读时区分真伪缺陷。
6、模拟试块的制作是不是很麻烦?
也许您会说:试块制作需要送到试块加工厂,时间长,费用高,很麻烦。我说:并不麻烦,对于制造厂来说,焊两块试板,自己钻几个精度要求不高的孔是举手之劳。
也许您会问:试块的孔怎么能自己钻呢,自己钻的孔精度不够会不会影响灵敏度设置的准确性?我的看法是:问题不大。孔加工精度对波高的影响远低于常规超声或相控阵检测的其他因素,例如仪器自身的、探头自身的、试块材质的,以及扫查带来的误差等。
思考后话:目前国际国内的相控阵标准都没有提及两种扫查方式的差异,也没用强调使用模拟试块,我在这里提出这个问题,是想广泛听取大家意见,得到有识之士的真知灼见。
╰9〇後╮_屁孩: 那TCG的作用是?
liuhonghui: 强老师,您提到模拟试块这个名词,英文名词是什么,因为试块用途分类叫法不一。在焊接上对于复杂结构焊接前要做焊接模拟件,英文是make up,您提到的模拟试块 ...