无损检测在线问题解答

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  丁老师：
              1. 在筒形锻件或环形锻件检测中，Φ900／Φ700×500，探头为Φ14,2.5MHZ,探头在周向（凸面）和端面检测。探头在周向检测，检测面和底面均为曲面，材质衰减系数如何测定？
              2.探头在端面检测，底面反射面不够大，材质衰减系数如何测定？
              3.在检测时，周向和端面均发现有超标缺陷（不是同一个），缺陷深度：a.大于3N,b.小于3N,由缺陷引起的底波降低量如何测定？
             4.双晶直探头是否可测定由缺陷引起的底波降低量如何测定？
                  

现 有一厚度12mm的对接焊缝，底片上在圆形缺陷评定区内有圆形缺陷1mm四个，0.5mm缺陷12个。这张底片按JB/T4730.2该评几级？

585858 发表于 2012-12-21 21:07
丁老师：
              1. 在筒形锻件或环形锻件检测中，Φ900／Φ700×500，探头为Φ14,2.5MHZ,探头在 ...

1. 在筒形锻件或环形锻件检测中，Φ900／Φ700×500，探头为Φ14,2.5MHZ,探头在周向（凸面）和端面检测。探头在周向检测，检测面和底面均为曲面，材质衰减系数如何测定？
可以进行测定，但必须考虑曲面的修正。具体修正的方法根据内外径查表可得相应的曲面补偿值。
2.探头在端面检测，底面反射面不够大，材质衰减系数如何测定？
一般锻件测量材质衰减无需每个方向测量，也可采用更大晶片直径的探头进行检测。
3.在检测时，周向和端面均发现有超标缺陷（不是同一个），缺陷深度：a.大于3N,b.小于3N,由缺陷引起的底波降低量如何测定？
不可采用计算的方法在小于3N声程时！采用DAC法或DGS法
4.双晶直探头是否可测定由缺陷引起的底波降低量如何测定？
可以，采用DGS法或DAC法！

{:soso_e163:}

360124249 发表于 2012-12-10 20:40
射线问题请教  洗出来的片子 对比度不好 请问有什么好的解决的办法

降低管电压

明明a 发表于 2013-1-4 15:45
现 有一厚度12mm的对接焊缝，底片上在圆形缺陷评定区内有圆形缺陷1mm四个，0.5mm缺陷12个。这张底片按JB/T ...

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顶一个、、、、、

关于返修几次才换板，各位大哥有什么标准和工艺？

你敢换板？真的牛{:soso_e193:}