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[讨论] 关于RT底片外观缺陷处理的讨论

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9100gf 发表于 2022-5-20 12:01:20 | 显示全部楼层 |阅读模式 打印 上一主题 下一主题
 
首先,若能够确定底片上的影像为外观缺陷,然后,若能够确定该影像不影响其他缺陷评定的情况下:是否可以由射线部门发起外观缺陷的NCR,技术部门给出外观缺陷的处理意见,修磨消除该缺陷后进行MT或PT检测。最终关闭该NCR。这样的话,可以避免由外观缺陷导致射线大量的复拍工作。
大家对此处理程序有何意见呢?
 

精彩评论2

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cyz 发表于 2022-5-23 09:12:40 | 显示全部楼层
 
理论上是行得通的,但是外观检验是上一工序,工序质量很重要,这是一判不清的官司!

点评

外观检验是上序没错。 但是,工序进行至无损检测发现外观缺陷这种情况。开出的NCR可以是外观检验漏检等原因。那么,关闭该NCR的方法可以是通过外观检验或表面检测。 我的意思是:未必是RT发现的外观缺陷就一定要通过  详情 回复 发表于 2022-5-23 11:10
 
9100gf 发表于 2022-5-23 11:10:23 | 显示全部楼层
 
cyz 发表于 2022-5-23 09:12
理论上是行得通的,但是外观检验是上一工序,工序质量很重要,这是一判不清的官司! ...

外观检验是上序没错。
但是,工序进行至无损检测发现外观缺陷这种情况。开出的NCR可以是外观检验漏检等原因。那么,关闭该NCR的方法可以是通过外观检验或表面检测。
我的意思是:未必是RT发现的外观缺陷就一定要通过RT去关闭。
 
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