RB-C对比试块疑问

JB/T47013.3-2015的规定，管子环向对接接头，外径≥159-500mm,检测方法按附录K进行，file:///C:/DOCUME~1/ly/LOCALS~1/Temp/msohtml1/01/clip_image002.jpg

哪问题如下：

1 按K4.1和K4.2条的理解，是不是一定要制做RB-C对比试块？因为即使用CSK-ⅡA制作DAC曲线，也要在RB-C试块上进行修正，哪还不如直接在RB-C试块上制作DAC曲线，这样更省事。

2 按照以往经验，如果采用高频、小晶片探头来进行检测，保证探头接触面与工件最大间隙小于0.5mm,,能否能直接采用CSK-ⅡA制作DAC曲线而不用在RB-C试块上进行修正？或者用CSK-ⅡA做好曲线后，直接在管子上进行耦合补偿就行？（好像没有找到可以这样做的依据？）

3 如果要制做RB-C试块，工作量太大(现场管道规格、种类繁多)，大家有什么好的办法？

  谢谢