关于新标准的IIA IIIA试块问题。

新修订的标准里面把IIIA放在了附录O，现在出现问题就是IIA试块在前面好多同学会以为IIIA的废除了。
还有就是下面图片中的问提。
在8~120范围内，IIA 跟IIIA的灵敏度是不是一样。


新标准的IIA IIIA灵敏度




旧标准的灵敏度


对比发现只是厚度增加了。灵敏度加了比较厚的部分。

这里是不是可以理解为工件厚度8至120mm时优先选用CSK-ⅢA试块。

我想应该是可靠性好，CSK-ⅡA试块的反射孔长40，容易调DAC，人的影响因素可能少些。CSK-ⅢA试块我想目前大多数企业现有的，用的比较上手，但从发展趋势看：05版CSK-ⅡA作为备选，15版主推，下版可能******会被淘汰的。
探头的技术指标也越来越重视，目前相同型号（频率、晶片尺寸、角度）经测试相差太大，厂家也不检测就出厂。15版就重视了许多。
标准讲求一致性，大家按标准做，结果应该尽量一致。采用CSK-ⅡA从人员对比上可靠性好，探头晶片尺寸大（如20*20）从人员对比上可靠性也比小晶片好，

补充：会被淘汰的是CSK-ⅢA试块