相控阵成像数据采集

M2M_NDTengineer 发表于 2015-11-13 11:40
采样点、采样频率和检测深度有关。如果一个检测设备检测深度能力很强，在采样频率一定的情况下，它的采样点 ...

采样频率是固定的吧，采样点多少随检测深度而变化。

“以S扫为例，S扫图像空间上由N条扫描线组成，而每条扫描线上又有M个采样点，
也就是M个点构成了线，这些点是离散的，N条线构成了面，这些线段也是离散的。”
对的
模拟机应该不算离散化采集吧？

浩瀚 发表于 2015-2-4 13:50
聚焦法则的总数量与这些点的总数量何种关系吗

所谓聚焦法则数与楼上糟老头子所说的扫描线相关，与采样点无关，有多少条扫描线就有多少聚焦法则数。以主流便携相控阵机型目前单组聚焦法则数都是256为例，假设做30°-70°的扇扫，步进1°时聚焦法则数为（70-30）+1=41，步进0.5°时为81，步进0.2°时为201。

浩瀚 发表于 2015-2-5 10:23
对于某一条扫描线而言，上面有若干个点组成。
发射是按某一方向，声束实际聚焦到某一具体深度。
对于接 ...

呵呵，谈到接收，你发射出去的超声波首先要碰到诸如试块上的横孔、平底孔，实际工件上的裂纹、气孔、夹渣等等反射体啊，发射出去的超声波连反射体都没碰到根本反射不回来还接收什么？所以何谈 “对于接收，上面所说的若干个点都应是接收的聚焦点”？把每条扫描线理解为一个单一特定角度的常规斜探头就行了，不要想太深走火入魔了。

采样点、采样频率和检测深度有关。如果一个检测设备检测深度能力很强，在采样频率一定的情况下，它的采样点一定是很多的。如果要考虑实时成像的而不卡的话，这就要求设备拥有强大的数据处理和算法计算能力。目前大家攻克的难度就是这里

糟老头子 发表于 2015-11-13 17:26
采样频率是固定的吧，采样点多少随检测深度而变化。

采样频率是可变的，一般用100M，还可以自己设置，我用的设备有这个功能。