.

.

先来看看常规的延迟快直探头（就是在接触式直探头前加装有机玻璃块）在延迟块与工件接触的地方会有一个界面回波，这个界面回波的宽度就决定了表面的盲区大小。虽然双晶直探头是采用一发一收且两个晶片是呈一定角度倾斜放置的，但这并不能完全杜绝和延迟块直探头相似的界面回波，当增益调的很大你就可以看到了。所以，这里的表面泄露回波高度，我想指的就是界面回波高度。

糟老头子 发表于 2013-12-25 14:12
先来看看常规的延迟快直探头（就是在接触式直探头前加装有机玻璃块）在延迟块与工件接触的地方会有一个界面 ...

正式因为双晶是倾斜发射的，所以怎么会有这个回波我没弄明白

来学习了，谢谢分享

关于这个泄露回波 其实质是两个晶片之间信号的互窜，也就是说发射晶片发出的声波在靠近隔声层方向有很小部分声波没有经过任何缺陷反射直接被接收晶片接受，形成回波。这个回波一般在荧光屏靠前端位置，在钢介质中的声程位置一般在0-5mm之间，波幅较低，如果探头制作工艺不好，此波波幅高会对检测近表面缺陷带来干扰。

枫林晚 发表于 2014-1-18 14:28
关于这个泄露回波 其实质是两个晶片之间信号的互窜，也就是说发射晶片发出的声波在靠近隔声层方向有很小部 ...

这个声波的位置取决于楔块的纵波声速以及楔块的长度，而跟你检测的材料没有关系。

前来向各位学习了

初学者{:soso_e113:}

谢谢各位，学习了。{:soso_e179:}

不错，学习了。