tofd机器进行双晶斜探头检测

如何设置仪器进行双晶斜探头进行检测，规格是：3.5×20×2F6  P4Mhz，我应该如何的用Φ2×40的对比试块如图进行DAC 的制作，因为探头一上到仪器上初始波就会很多，再然后探头扫过Φ2×40孔时会出现很宽的起伏的指示波，我就不知道该如何做DAC了，那就没法进行检测了。

把模式改成双晶，做DAC和常规探头一样的

这个可以做A扫的！不过，并不比国产的仪器好用。特别是扫查速度快的情况下，容易丢失信号，且响应有点慢。
模式没有调对，单发单收的情况下，双晶探头前沿附近的杂波很难接受的！

是的呀，大家的眼睛是雪亮的，我再研究研究，大家踊跃发言

激发参数中选项是双晶的，可是接受参数中应选有射频，全波，正波，负波，频谱，应该怎么选，另外还有波长95nm，频率，调校出的波形层峦叠嶂的，没法象普通的DAC的那样单个的高波峰做DAC啊。

没有波长这一调节项的。可能楼主将脉冲宽度当成波长调节项了！
你检测的材料是什么材料？如果底波较宽（层峦叠嶂）很可能为粗晶材料/反射底面较为粗糙，或者调节的参数不对。
你可以在CSK-1A试块上射频模式上依次调节：感抗匹配、阻抗匹配、滤波带宽、脉冲宽度（PW）使得接收波形达到较小周期数，且正半周某一波幅最高；然后转为全检波模式做DAC曲线。
如果探头模式不是为双晶的情况下，那么始波附近杂波较多。选择合适的检测范围，如果调试声程较短，因仪器显示失真，也会导致层峦叠嶂的现象，提高范围这种情况会改善很多。另外，将C5接头调换一下试试。
Isonic 2007主要是TOFD双通道检测用的，做A扫的时候扫查速度不要太快、深度B扫应该没什么大的影响。

C5接头即图中连接双晶探头的接头型式，Isonic 采用的是C5-C5连接探头和仪器。用CSK-1A R50/R100调节双晶探头的声速和零点；如果有IIW试块 R25/R50调节应该更好一些，F=6mm,要用专用试块测试，一般是钻有不同深度的横孔试块，从2mm深开始，固定某一合适灵敏度（增益）记录不同孔深的回波波高，波幅最高的那个深孔代表该探头实际焦点（当然有一定误差）。试块可能也选用不当.

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超声版主真厉害！{:soso_e179:}

学习一下。。。。。。