复合板基板内部缺陷检测实例分析及问题讨论

{:soso_e179:}

很好的学习材料，楼主有空多发些实测帖

学习了

强老师确实厉害啊！

很好的，谢谢

太喜欢这样的帖子了,评论区也好

看了这个贴子很多次，有些想法： 基材用的2.5/1.25不同频率得到不同的单量结果，原因是为什么？探头直径的改变是否也会呢？ 覆材侧用双晶结果是否会一样呢？如何准确评定单量的确？？

2，赞同直接用大平底的方法。我们做的复合板（碳钢-铜）做了试块实际的确没有什么用处。当探头移动时候很难去观察结合处的波形宽度和底波情况。（如果用的是GE设备可以用BER功能同时观察底波）。

同一反射体（或缺陷）在不同频率探头检测下，缺陷当量不一样，是很正常的事情；探头直径改变，也会引起显示当量不一样；覆材侧用双晶结果也会不同，而且双晶探头聚焦到目标位置，比较困难。如果需要准确评定缺项当量，需要采用同材料、同热处理状态，带复合层对比试块（钻了不同直径的平底孔）进行评估；评估完后，还需要采用其它方法验证（解剖、射线，超声成像C扫等）
采用大平底方法时，需要知道探头声场分布，声束宽度，以及对应声程处大平底和评定孔当量差，还要看缺陷在探头声场当中的位置，比如近场还是远场。

luolang1314 发表于 2024-2-29 08:31
同一反射体（或缺陷）在不同频率探头检测下，缺陷当量不一样，是很正常的事情；探头直径改变，也会引起显示 ...

领导好，我的理解其实就是需要工艺明确。否则可能吃亏