糟老头子 发表于 2013-5-22 17:53 不好意思,我还是不明白你的问题是什么。能再详细说下嘛?
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allen_hay 发表于 2013-5-22 15:31 你将该现象重复一下,扶稳探头,降低设备的脉冲重复频率,看该现象还存不存在。 如果仍然存在,换一个常规 ...
Ansan 发表于 2013-5-22 19:30 你的提示很好! 1、首先降低重复频率时,并没,没有引起相关图示的灵敏度较低,所以可以断定:和重复频 ...
糟老头子 发表于 2013-5-22 20:56 不知是不是因为我的理解能力比较差,还是不太明白你问题的所在。 增加增益后,灵敏度提高,工件中的噪声 ...
Ansan 发表于 2013-5-22 23:07 你提到的‘“工件中的噪声或者小缺陷”,我这有个疑问! 条件: 使用相控阵直探头,增益读数为40dB,去检 ...
糟老头子 发表于 2013-5-22 23:24 工件中存在对后期使用时造成负面影响的“不连续”被定义为“缺陷”,你在校准好仪器灵敏度后,只要不连续 ...
Ansan 发表于 2013-5-22 23:38 我不敢苟同! 相控阵技术,存在许多几何缺陷,类似栅瓣! 你觉得用‘检出界限’来判别真实缺陷和未缺陷 ...
糟老头子 发表于 2013-5-23 09:10 你觉得相控阵不能定量吗?
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