相控阵缺陷尺寸测量的问题

在研究相控阵聚焦法则的原理时，发现在线扫或在扇扫图像上直接测量缺陷的二维尺寸，可能不精确的问题，如图：发射声束为黑色线，合成声束为粗的一条红线，缺陷偏离合成声束。虽然缺陷偏离合成声束，但是缺陷的反射回波仍然可以被探头接收，所以合成的声束信息里也包括缺陷的信息。这样，不管是扇扫图像，抑或是线扫图像，如果缺陷不在发射声束的聚焦点上，则缺陷的尺寸就有可能被放大，因此在扇扫图像或者线扫图像测量缺陷的长度或宽度就会存在较大的误差。欢迎大家参与这个问题的讨论，在扇扫或线扫的图像上能否对缺陷的尺寸进行测量，测量的误差有多大？

当然可以对缺陷定量，误差嘛，不好说，很多因素影响，例如校准的好坏等

估计你是搞电子或者软件背景的吧。
建议从空间声场分布的角度来考虑问题。
分辨率和电子聚焦之间的关系。

如果不是使用特征点测量的方法（例如尖端衍射信号）的话，误差会很大。缺陷在相控阵扫描图像上的成像跟很多因素有关，比如波束的扩散特性，角度的准确性，缺陷的走向等。个人不认为这些成像显示能直接进行缺陷定量测量，很简单的道理，同样的一个缺陷，如用大角度部分去测，和用小角度部分去测，很可能得出完全不同的大小。

谢谢大家的分享意见，也就是说，其实相控阵所成的图像还不能真正反映缺陷的轮廓情况，换句话说，很难根据相控阵图像对缺陷进行定性。

furulong 发表于 2013-5-17 15:29
谢谢大家的分享意见，也就是说，其实相控阵所成的图像还不能真正反映缺陷的轮廓情况，换句话说，很难根据相 ...

如果相控阵很难对缺陷定性，那常规超声就更难。

{:soso_e163:}

我还是一头雾水，我这样理解正确吗？相控阵技术也并不能很精确地对缺陷进行定量，在对缺陷进定量时，比如运用端点6dB法，，其实和常规是一样的。是不是这样理解？望各位牛人解答疑惑