仪器的扫查灵敏度不变，改换不同频率探头,...

    例如，原来的扫查灵敏度是频率为2.5MHz的直探头，发现缺陷当量为2mm;后来换成2MHz或1.25MHz，但距离波幅曲线未变(还是2.5MHz探头的)，仪器的扫查灵敏度未变(发射强度，增益衰减等状态未变)。请问: 检测结果---缺陷当量，可能会出现什么变化呢？(谢谢下面这位朋友，根据他的回复，我进行了修改)

李济科 发表于 2013-3-18 16:13
我发这个帖子的目的，是想讨论另一个帖子提出的问题。另一个帖子，即kgkevin 先生的帖子《直探头频率大小对 ...

我换不同频率探头的时候，AVG曲线是按照当前探头分别制作的。

近场区变大，分辨力变差，最小可检出的缺陷大小变大（这里的大小应该是垂直于超声传播方向的缺陷大小）

不变！{:soso_e100:}

同晶片尺寸的探头，近场区变小才是。探头检出的缺陷的理论最小尺寸变大，但是实际缺陷检出情况，则视待检材料晶粒尺寸和探头频率“匹配”情况而定。对于粗晶材料，有文献指出，波长大于十倍平均晶粒尺寸为可检条件。

丁伟臣 发表于 2013-3-17 19:12
不变！

频率变小↓>波长变长↑近场区变小↓>声束扩散角变大↑>横向分辨率变差↓>理应回波降低↓;
但是频率变小↓>也伴随着衰减变小↓>，回波又有可能升高↑。
所以可能出现不同情况。
丁工：不变的原因可以解释下吗？如果不变那我们岂不是可以对多个探头只做一个dac曲线？

近场区变小，已改正！

谢谢以上朋友参与讨论！尤其谢谢枫林晚先生的实验！！关键问题是:怎么用理论来解释他这个实验？

是不是跟计算公式有关系

枫林晚先生的观点，基本正确。希望去查查平底孔反射声压公式，详细说明。

我发这个帖子的目的，是想讨论另一个帖子提出的问题。另一个帖子，即kgkevin 先生的帖子《直探头频率大小对锻件缺陷当量的影响》。