探头的入射点，真的在探头上么？

如题。

    谢谢刘先生参与讨论。我常形容这个问题，类似个成语刻舟求剑。探头上的标识的入射点，实际上是过该点，通过耦合层，作工件表面的垂线，找到与工件表面的交点，或者说，是扫查面上的相应点，那才是真的进入工件表面的入射点(请原谅，话说罗唆了)。如果声束向左下发射，而探头上真的入射点，应在实测入射点的右方，两点有微小差距p，p与耦合层厚度和声束倾斜角度有关。不知这样理解对否？

?
详细！
没太明白。

{:soso_e179:}

我感觉我们在计算的时候都忽略了耦合剂层的影响，实际上，满足波形转换的界面是在耦合剂层与被检工件表面所发生的反射和折射现象，在讲探头面积时，提到有效探头面积的概念，那么，我个人感觉应该再提出有效探头入射点，以及研究与实际入射点之间的关系。个人认为，有效探头入射点比实际入射点稍微前移一点，李老，您看那？晚辈的浅见！

我也这么认为，但您要说明说明呢？

真正的入射点其实是在工件表面，我们实际测得的入射点就是工件表面的。
不过耦合剂厚度都这么小，没必要这么较真吧。

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这个问题理论上可以研究，在实际工作中只要操作得当耦合剂层的影响可以忽略不计。

同意楼上观点