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丁伟臣 发表于 2013-3-14 20:54 哈哈,具体深度定位是由探头扫查位置计算而得的,不是屏幕上读数呀!PA也可以解决一些问题!每种方法都有局 ...
丁伟臣 发表于 2013-3-14 22:01 是的!相控阵测量其原理仍旧是脉冲反射,与TOFD有本质区别,特别针对与工件扫查面垂直的光滑缺陷,检出能力 ...
丁伟臣 发表于 2013-3-15 19:44 当然不是两个探头了!单个多晶片电子聚焦探头!
丁伟臣 发表于 2013-3-15 21:42 正是!
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