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GB/T 26140-2010 无损检测 测量残余应力的中子衍射方法

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查看2525 | 回复0 | 2012-12-31 13:34:17 | 显示全部楼层 |阅读模式
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资料名称: GB/T 26140-2010 无损检测 测量残余应力的中子衍射方法
资料用途: 标准
资料简介: GB/T 26140-2010 无损检测 测量残余应力的中子衍射方法
资料截图: -
本帖最后由 璎珞 于 2014-2-19 13:57 编辑

GB/T 26140-2010 无损检测 测量残余应力的中子衍射方法




无损检测, 磁粉

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