超声波探伤仪单双探头的扫查方法

[复制链接]
查看2835 | 回复0 | 2012-12-13 17:29:01 | 显示全部楼层 |阅读模式
资料分享
资料名称:
资料用途:
资料简介: -
资料截图: -
一、单探头的扫查方法
单探头扫查是用一个发射兼接收的探头进行扫查。为了发现缺陷及对缺陷进行准确定位,必须正确移动探头和布置探头。
    1)锯齿形扫查
探头以锯齿形轨迹作往复移动扫查,同时探头还应在垂直于焊缝中心线位置上作±10°~15°的左右转动,以便使声束尽可能垂直于缺陷的扫查方法,常用于焊缝的粗探伤。
2 )基本扫查
基本扫查方式有四种:转角扫查的特点是探头作定点转动,用于确定缺陷方向并区分点、条状缺陷。同时,转角扫查的动态波形特征有助于对裂纹的判断;环绕扫查的特点是以缺陷为中心,变换探头位置,主要估判缺陷形状,尤其是对点状缺陷的判断;左右扫查的特点是探头在平行于焊缝或缺陷方向作左右移动,主要是通过缺陷沿长度方向的变化情况来判断缺陷形状,尤其是区分点、条状缺陷,并用此法来确定缺陷长度;前后扫查的特点是探头垂直于焊缝前后移动,常用于估判缺陷形状和估计缺陷高度。
3 )平行扫查  
其特点是在焊缝边缘或焊缝上作平行于焊缝的移动扫查,此法可探测焊缝及热影响区的横向缺陷如横向裂纹。
4 )斜平行扫查  
其特点是探头与焊缝方向成一定夹角(α=10°~45°)的平行扫查,该法有助于发现焊缝及热影响区的横向裂纹和与焊缝方向成一定角度的缺陷。为保证夹角α与焊缝相对位置稳定不变,需要使用扫查工具。

本帖子中包含更多资源

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

×
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则