筒形锻件检测中，如何测定由缺陷引起的底波降低量

     丁老师：
              1. 在筒形锻件检测中，Φ900／Φ700×500，探头为Φ14,2.5MHZ,探头在周向（凸面）和端面检测。探头在周向检测，检测面和底面均为曲面，材质衰减系数如何测定？
              2.探头在端面检测，底面反射面不够大，材质衰减系数如何测定？
              3.在检测时，周向和端面均发现有超标缺陷（不是同一个），缺陷深度：a.大于3N,b.小于3N,由缺陷引起的底波降低量如何测定？
             4.双晶直探头是否可测定由缺陷引起的底波降低量如何测定？

一次底波减去二次底波的DB差除以2倍板厚