用大平底对锻件单个缺陷定当的底波基准点选取

锻件检测中，当缺陷声程大于探头3倍近场时，可利用底波调节灵敏度对缺陷进行定量，但由于锻件不同部位的材质衰减差异会造成底波高度不一，因此请教：当对一个单个缺陷进行定量时，调节灵敏度的底波选取点是应该在最接近缺陷的工件完好处还是在整个锻件的底波回波最高处呢？

很好的问题，我也想了解一下，帮你顶一下。{:soso_e179:}

不同部位的衰减所导致的波高的差别应该不会很大吧？是否选择的探头频率太高了？

调节灵敏度的底波选取点应该在最接近缺陷的工件完好处!

非常感谢老师的指导，

{:soso_e163:}

不同的标准有不同的规定吧。。。
JB系列的标准是在无缺陷的完好区域测试，但未具体指定是距缺陷最近处还是其他的完好区域；
GB/T6402-2008--同样是无缺陷处的可以代表完好锻件材质处的底波以基准，同样也没明确操作方法，位置要求.

国外的大致翻了下，

---ASTM，EN提到了DGS法，类似于底波法，这个方法需有探头厂提供的DGS曲线，但是对于在何处调底波取得参考当量也没有明确；
---JIS Z2344提了底波法，但未明确具体的操作方法。

欢迎大家补充！！！

个人同意丁工的说法。因为这样可以比较准确反映缺陷的当量。

JB/T4730.3-2005虽然提了传输衰减的测量方法，没有规定同一锻件在同一检测面上衰减系数的允许波动范围，也没有对锻件以底波法调节检测灵敏度时的具体方法，部位要求作出说明。如果一个锻件比较大，晶粒组织并不均匀，且缺陷正好处于晶粒组织相对较大处，如果以完好细组织处的底波调节基准灵敏度，则实际的缺陷当量有可能被低估。建议标准对于这一方法进行明确的说明。

只要不超过2dB就不用考虑

学习了。。。谢谢

{:soso_e179:}