本帖最后由 MT006 于 2012-8-27 11:51 编辑
超声波测厚仪是一种利用超声波谐振原理来精密测量部件厚度变化的超声波电子仪器。测量过程中,只需与部件的一个表面接触,就可在仪器萤光屏的刻度尺上直接读出厚度值.在一定范围内,操作简单,读数方便,准确度高. 仪器由压电换能器、调频振荡器、脉冲放大器及大屏幕显示器等部分组成。 调频振荡器的工作频率作周期性变化.压电换能器将振荡器电能转换成频率变化的声能,从外表面向被测部件的内部辐射超声波.当超声波半波长等于部件厚度或其整数分之一时,会产生“厚度谐振”现象.此时,振荡器将在这些频率上输出与厚度对应的电脉冲信号.经过放大器放大,在萤光屏上显示出来.显示器的水平扫描与频率的变化周期同步. 仪器采取了提高稳定性的措施,保证测量具有高的准确度.机内带有磁饱和稳压装置。有效地克眼了市电来的各种干扰.在市电180—230伏的涨落范围内都能正常工作.显示部分还采用了高频高压稳压装置。此外,振荡部分采用电感调频式双三极阴极偶合电路,起振容易,谐波夫真小,可工作的频率范围大,变换频段及调整方便.压电换能器采用结钛酸铅压电陶瓷.它与部件接触的一面粘有用耐磨材料氧化铝陶瓷做的保护膜，使换能器在使用中不受磨损。 涂层测厚仪选型注意事项
(一)选型注意事项细则
1、我厂的涂层为防火材料，厚度在 5-8个毫米，能否使用贵厂的产品进行测量。
答：选配TT260配以F10探头，可测量0－10mm的涂层厚度。
2、可以测量薄膜、纸张的厚度吗？
答：对于满足厚度要求的薄膜、纸张的厚度通过底部衬金属基材的方式是可以测量的，目前这方面的应用客户很多。
3、CN02探头是用来测什么材料的？
答：CN02探头是专门用来测量线路版上铜箔厚度的，量程为0－200um
(二)涂层测厚仪影值的因素
1．影响因素的有关说明
a) 基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
b) 基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c) 基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d) 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e) 曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f) 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
g) 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
g) 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
h) 附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i) 测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
j) 测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
2．使用仪器时应当遵守的规定
a) 基体金属特性
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
b) 基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3)中的某种方法进行校准。
c) 边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d) 曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
e) 读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
f) 表面清洁度
测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质
测厚仪 参考资料：http://www.mitech-ndt.com/chy/ | 
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