一个企业的提问：锻件超声检测验收的问题

一个企业的提问——大亮<fxdaliang@163.com

关于JB/T4730.3-2005超声波检验中有关专业术语及验收级别中若干问题的解答。

例：一锻件，规格1305×920×1300，材质F22,验收标准JB/T4730.3-2005-4.2款项执行。要求探伤灵敏度不得低于φ2mm当量基准反射体波幅。验收级别：单个缺陷Ⅱ级；密集区缺陷区Ⅰ级；底波降低量Ⅰ级。

检验结果：

在检验中发现,在100mm×150mm范围内,存在密集区缺陷。其反射波幅超过φ2mm当量基准反射体波高12～14dB，缺陷当量均在φ2～3mm范围之内。在检验评定时，双方(以下简称甲、乙方)产生疑问：

1. 依照标准,现检验出来的缺陷面积,缺陷幅值,缺陷当量,双方意见一致。

2. 甲方：只是说允许φ3mm当量缺陷存在，不能说它不是密集区缺陷，依据标准JB/T4730.3-2005-4.2.9.2规定, 小于φ3mm当量直径的缺陷密集区不计就不算密集区缺陷。

   乙方：依据标准JB/T4730.3-2005-4.2.10.3规定，Ⅰ级密集区

缺陷为零，即不存在。

3. 甲方：依据标准JB/T4730.1-2005-3.16第三条规定，其反射波幅均大于某一特定当量缺陷基准反射波幅是φ3mm 。

     乙方：依据标准JB/T4730.3-2005- 4.2.6.3一般不得低于最大检测距离处φ2mm平底孔当量直径。我们计算出来的缺陷当量也是以φ2mm为基准的。

4. JB/T4730.3-2005-4.2若干条规定，单个缺陷，密集区缺陷，底波降低量的记录是说允许这些缺陷存在或不允许存在而进行的记录，是评定缺陷等级的依据，这种说法对吗？

     诸上问题恳请专家给予解答和帮助，我们表示诚挚谢意！

强老师。。。

1:首先确认缺陷深度。

A:反射波幅超过φ2mm当量基准反射体波高12～14dB。要确认缺陷深度。
1：按照声压算出缺陷实际大小。
B:在检验中发现,在100mm×150mm范围内,存在密集区缺陷
1：我记得4730规定好像是50*50范围 记录大于大于3MM的单独缺陷。
C:I级密集区缺陷为零，即不存在。
1：这好像不合理。可以出现单个缺陷或者小于几个以内的缺陷。只有大于等于5个规定缺陷大小才算密集缺陷。
D:JB/T4730.3-2005-4.2若干条规定，单个缺陷，密集区缺陷，底波降低量的记录是说允许这些缺陷存在或不允许存在而进行的记录，是评定缺陷等级的依据，这种说法对吗？
特别是底波降低是比较合理。
我个人认为合理。
以上FYI.

有点意思，等待结果公布中！

2. 甲方：只是说允许φ3mm当量缺陷存在，不能说它不是密集区缺陷，依据标准JB/T4730.3-2005-4.2.9.2规定, 小于φ3mm当量直径的缺陷密集区不计就不算密集区缺陷。
   乙方：依据标准JB/T4730.3-2005-4.2.10.3规定，Ⅰ级密集区缺陷为零，即不存在。
我的观点：我赞同甲方的意见。在50mm声程范围内或50*50mm检测面上同一深度范围内有：大于φ3mm当量直径的缺陷有5个及以上时才算是密集区缺陷，否则不算密集区。乙方所说的“Ⅰ级密集区缺陷为零”，这个零是一种相对的不存在，并不是绝对的不存在，即：首先要存在符合“密集区”定义的缺陷区域。
3. 甲方：依据标准JB/T4730.1-2005-3.16第三条规定，其反射波幅均大于某一特定当量缺陷基准反射波幅是φ3mm 。
     乙方：依据标准JB/T4730.3-2005- 4.2.6.3一般不得低于最大检测距离处φ2mm平底孔当量直径。我们计算出来的缺陷当量也是以φ2mm为基准的。
我的观点：我比较赞同甲方观点，即对饼形锻件其反射波幅均大于某一特定当量缺陷基准反射波幅是指φ4mm这一特定当量 ，对其它锻件其反射波幅均大于某一特定当量缺陷基准反射波幅是指φ3mm 这一特定当量。以最大检测距离处φ2mm平底孔当量直径作为基准，可以得出某一深度上的缺陷当量值，当此深度上的缺陷当量值大于或等于特定当量值时，且符合密集区的定义时，这时作为密集区缺陷进行记录，并评定级别。
4. JB/T4730.3-2005-4.2若干条规定，单个缺陷，密集区缺陷，底波降低量的记录是说允许这些缺陷存在或不允许存在而进行的记录，是评定缺陷等级的依据，这种说法对吗？
我的观点：我认为这种说法是对的。

关键在于我们密集显示的评定依据不够清晰，而且个人认为在50mm声程范围内或50*50mm检测面上同一深度范围内有：大于一定当量直径的缺陷有5个及以上时才算是密集区缺陷，实际操作有点困难和不科学。比如一个有延展性显示，贯穿整个检测区域，但其是一个显示或单个点状的显示等同对待吗？
按照标准来说，支持YXF的观点！

丁工所讲的“有延展性显示贯穿整个检测区域的缺陷”是否可以理解为缺陷本身的高度较大（从入射声速方向上看）？如果是这样的话，在检测时，当具有与原检测面1相垂直的检测面2时，此时从检测面2应该不难发现这个延展性的缺陷，从检测面2对缺陷作评定的话是否更恰当一点？不知我的理解对否？

在检验中发现,在100mm×150mm范围内,存在密集区缺陷。其反射波幅超过φ2mm当量基准反射体波高12～14dB，缺陷当量均在φ2～3mm范围之内。在检验评定时，双方(以下简称甲、乙方)产生疑问：

1. 依照标准,现检验出来的缺陷面积,缺陷幅值,缺陷当量,双方意见一致。

2. 甲方：只是说允许φ3mm当量缺陷存在，不能说它不是密集区缺陷，依据标准JB/T4730.3-2005-4.2.9.2规定, 小于φ3mm当量直径的缺陷密集区不计就不算密集区缺陷。

   乙方：依据标准JB/T4730.3-2005-4.2.10.3规定，Ⅰ级密集区
支持甲方观点
3. 甲方：依据标准JB/T4730.1-2005-3.16第三条规定，其反射波幅均大于某一特定当量缺陷基准反射波幅是φ3mm 。

     乙方：依据标准JB/T4730.3-2005- 4.2.6.3一般不得低于最大检测距离处φ2mm平底孔当量直径。我们计算出来的缺陷当量也是以φ2mm为基准的。
按照JB/T4730.1-2005-3.16的密集缺陷的定义 以及JB/T4730.3-2005 4.2.9缺陷记录对于密集缺陷4.2.9.2的标准其他锻件应记录大于或者等于φ3当量直径的密集区,综上看 甲方观点是正确的
4. JB/T4730.3-2005-4.2若干条规定，单个缺陷，密集区缺陷，底波降低量的记录是说允许这些缺陷存在或不允许存在而进行的记录，是评定缺陷等级的依据，这种说法对吗？
是

总体来看 甲方观点在标准上有事实和理论根据, 根据您的描述
在检验中发现,在100mm×150mm范围内,存在密集区缺陷。其反射波幅超过φ2mm当量基准反射体波高12～14dB，缺陷当量均在φ2～3mm范围之内。
该缺陷 显然是符合JB/T4730.1-2005-3.16关于 密集缺陷的定义的  但是根据判定标准的规定 显然不符合 JB/T4730.3中4.2.9.2 其他锻件应记录大于或者等于φ3当量直径的密集区的 要求 如果乙方无法证实该密集缺陷的最大当量大于φ3mm则该缺陷则不能作为不合格的依据  

我想表达我们对超声缺陷的分类中，点状和有尺寸的显示分别不清，但其危害性大不相同！