输入TOFD仪器内的PCS值与实际操作时两探头的PCS不一致的影响

由于同一端点的衍射角度发生变化，可能造成衍射图像的局部不同，但绝大部分应相同；由于深度标尺的失效，无法进行测高和测深，故不可用于交工！

丁伟臣 发表于 2012-7-9 12:33
由于同一端点的衍射角度发生变化，可能造成衍射图像的局部不同，但绝大部分应相同；由于深度标尺的失效，无 ...

是的，受影响最大的是缺陷深度和高度，尤其是高度差别对级别的评定至关重要

luolang1314 说：“对于厚度小于100mm的试块，个人建议两通道都要显示直通波和底波”
这一条似乎不太妥吧？！

学习了{:soso_e181:}

以色列设备TOFD检测，对于厚度大于50mm的工件，一般都是采用分次扫查，每一次扫查都会看到直通波和底波。也就国产设备一般采用双通道单次扫查，双通道单次分层扫查，第一层只看到直通波，第二层只看到底波，通过计算的方法仪器BW自动锁定第一层分层线，此分层线前不着村，后不着店，除非用等效厚度校准\对比试块校核，否则没办法进行深度校核以及检查参数设置是否正确。标准规定对于大于50mm的工件采用分层检测，并且两层之间至少覆盖25%.这只是最低要求。层与层之间覆盖的比例完全可以再加大一些。而且面对54mm的工件检测，分两层计算实在是一件没意思的事情。根据ASME标准，75mm以下工件，单通道一般一次扫查就足够，多出的一次扫查不如采用偏置扫查，解决一下较宽焊缝的声束宽度覆盖问题。

不过，最新的以色列双通道检测设备，引入了分时触发模式，充分解决了双通道之间的相互干扰的问题。不需要采用单次扫查的方式了

学习.......

学习！学习！

学习学习

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