学习JB/T4730.10的一个问题

显示全部楼层 · 2011-3-2 06:31:16

本帖最后由李济科于 2011-3-2 11:55 编辑

TOFD非平行扫查时，上、下盲区应如何测量？如果工件厚度为30mm，“探头对“的频率f、间距2S、脉冲宽度Δt等，均符合标准要求，测出的上、下盲区各是多少呢？测量结果与计算结果相符么？

xcb526 · 2011-3-3 08:10:14

上表面盲区：用试块实测；
底面盲区：用计算的方法。

xcb526 · 2011-3-3 09:33:41

底面盲区计算时符合椭圆方程

李济科 · 2011-3-3 10:57:01

谢谢Xcb526先生！上盲区实测与计算结果相符么？

xcb526 · 2011-3-3 21:06:27

不好意思，没有做过试验，不敢妄下结论！请有相关经验的专家赐教！

xcb526 · 2011-3-3 21:10:36

上表面盲区：用试块实测；底面盲区：用计算的方法（符合椭圆方程）。
然后再把试块翻过来，重复上面所说，对比结果即可。
（虽没有实测过，但用椭圆方程计算是通过大量的试验总结出来的。从这一点上来看，我认为：计算与实测应该结果应该是相符的。）

李济科 · 2011-3-4 07:09:39

我没做过试验。谢谢！

xcb526 · 2011-3-4 12:58:02

我也没有做过实验，

李济科 · 2011-3-4 14:02:35

Xcb526先生：通过您的测试和计算，对同一个工件，您认为上、下盲区哪一个大呢？

xcb526 · 2011-3-4 18:16:46

应该是上盲区大，下盲区小