输入TOFD仪器内的PCS值与实际操作时两探头的PCS不一致的影响

luolang1314 发表于 2013-6-20 13:53
分层检测并不是僵化的理解为外表面两次或单次双通道分层检测的。不过，对于内表面扫查，扫查器及辅助设备要 ...

哦，那看样子我们的工艺应该没有多大问题，我们一般检测的球罐都在2000立方以上，最大做过10000立方的，从内表面检测还是没有太大的问题，看样子厚度方面分层不应该死板，学习了，谢谢！

彗星 发表于 2013-6-21 12:52
哦，那看样子我们的工艺应该没有多大问题，我们一般检测的球罐都在2000立方以上，最大做过10000立方的， ...

学习啦，这确实是一个很好的案例，值得在标准中推广，而且很好地解决了表面盲区的问题。

分析软件无法校准PCS？

这么大能吗？

{:soso_e103:}

受教了，谢谢

luolang1314 发表于 2013-6-20 13:53
分层检测并不是僵化的理解为外表面两次或单次双通道分层检测的。不过，对于内表面扫查，扫查器及辅助设备要 ...

"外表面为设备应力水平较高区域"。这句话不够准确。对理想回转体来说，内壁应力最高，往外壁方向应力变化趋势是逐渐减小。对厚壁回转体内壁与外壁应力相差很大。对薄壁回转体两者应力差可以忽略不计。

好久没上来了，真热闹，讨论也很激烈！非常好！

学习学习

同意深度测量不可信，保持高测量精度要实际扫查架PCS等于设备设定PCS