JB/T4730.2（射线）讨论区

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   其实ASME圆形缺陷评定图谱只是举例，在实际评片中是不能进行比对的，如每张片子都进行比对是无法评片的。具体圆形缺陷的评定应按圆形缺陷评定条款执行。感觉不算太麻烦。记住各圆形缺陷的定义。

    JB.T4730.3-2005-4.2中。P78.表7.单个缺陷质量分级。在锻件检测中，如果缺陷深度小于3N时，按P77.4.2.8.1中--对于3倍近场区内的缺陷，可采用距离--波幅曲线来确定缺陷当量。而表7是用Φ4+db来表示，是否合适？是否可考虑当缺陷深度小于3N时，用当量范围来表示，因为在该区域的缺陷当量 是用距离--波幅曲线来确定。例如单个缺陷Ⅲ级，Φ4+（﹥8db--12db)是否可采用（Φ6.34--Φ8）表示。本人感觉，当缺陷 深度大于 3N时，用Φ4+db,当缺陷深度小于3N时用当量范围表示，这样表示较规范。不知理解是否正确？仅供参考。另外JB.T4730.3-2005--6.P104表29，斜探头K值的选择，表中探头K值是否标注反了，根据管壁厚度应该为：3.0--2.5；2.5--2.0；2.0--1.5.而不应该是：2.5--3.0；2.0--2.5；1.5--2.0.

    没注意将UT问题发在RT讨论区里。

K值问题，应该好好考虑，现行标准对纵缝的要求比环缝严，其实环缝横向裂纹更危险，建议把纵缝的K值应放宽，或者取消K值。前面有人也探讨过。

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征求意见稿网上怎么还没有出来呢？

对NB/T47013.2意见稿中4.3.2条 射线检测工艺文件验证看法：
      当f一项参数改变时，检测工艺文件必须进行修订并重新验证；是否需要？
       本人认为：在其它参数不变时，f参数改变实际就是F改变了，这样可通过平方反比定律对曝光量进行换算，获得新的曝光量进行透照，可不必对检测工艺文件进行修订和重新验证。

标准(征求意见稿)4.4条”辐射防护”中关于控制区和监督区的划分
a)GB16357标准已被GBZ117-2006《工业X射线探伤放射卫生防护标准》代替，GBZ117-2006所代替的历次版本为：GB16357-1996，GBZ117-2002，GB/T17150-1997，GBZ/T150-2002。GBZ117-2006标准第4.2条“X射线现场探伤作业”中规定对于现场探伤作业，按空气比释动能率大小将作业场所划分为控制区和监督区。
b)GB18465标准已被GBZ132-2008《工业γ射线探伤放射防护标准》代替，GBZ132-2008所代替的历次版本为：GB18465-2001，GBZ132-2002。GBZ132-2008标准第`7条形“移动式探伤的附加要求”中规定进行探伤作业前，应将工作区域划分为控制区和监督区。
   因此，不论是X射线探伤，还是γ射线探伤，都统一将工作区域划分为控制区和监督区。而不再是GB16357标准的X射线探伤划分为控制区和管理区，GB18465标准的γ射线探伤划分为控制区和监督区。