TOFD试块是不是非常重要？

大家都知道，常规超声波检测离不开试块。但是对TOFD来说，试块有那么重要吗？

我的看法，虽然TOFD检测仍然需要试块，但试块的反射体尺寸、位置参数，以及加工精度，对于TOFD技术来说，并不重要，这是因为TOFD的原理和特性与脉冲回波法检测完全不同。由于脉冲反射法的定量定位均离不开试块，且试块对检测精度有直接影响，所以对试块的要求很高。但对TOFD试块的要求需要那么严和那么高吗？欢迎大家讨论。

注：以上所说试块指的是对比试块。

TOFD对尖端敏感，现有的TOFD试块的人工孔是不是还不够尖呢

TOFD技术本身不是通过测量缺陷的当量（即回波高度）来判断，而是通过测量缺陷的尺寸，如长度、高度来判断，试块的侧孔或者刻槽仅是辅助设定检测灵敏度，或者分区覆盖验证。如果工件厚度小于50mm，按照标准不用分区，不用对比试块也可以进行探伤，因为检测灵敏度可以直接在工件上进行设定。

对比试块精度要求不高

furulong 发表于 2014-5-27 14:39
TOFD技术本身不是通过测量缺陷的当量（即回波高度）来判断，而是通过测量缺陷的尺寸，如长度、高度来判断， ...

大于50mm的检测，同样很少使用对比试块。

另外有一点需要提的是，我公司只购买过一块200mm厚的对比试块，买回来基本上有一年多没有用过。怎么使用当时都不怎么会。
后来，我在对比试块上测PCS，验证TOFD参数设置是否和输入值一致，跟着我做TOFD的人都嫌我做的工作无意义。我跟他们讲过多次，当你对检测工艺的参数有怀疑时，对比试块就是检验其是否合理的一个最好工具。

至于对比试块反射体尺寸、位置参数、加工精度是否重要？我觉得从公差上来讲，脉冲反射法位置参数的公差（一般标准欧标、美标）还是比较大的，所以在脉冲反射法当中，位置参数并不是特别重要，但表面下4mm 的2mm孔，位置参数和上表面盲区有关？当采用分层扫查时，有些软件采用计算法自动生成参考线，对比试块上的某一深度的孔，可以验证分层扫查某一通道参考线是否正确，如果对比试块在设置人工反射体考虑到这一点，则对于多通道检测的确方便一些；孔径尺寸ASME脉冲反射法要求也不是很高，TOFD 也同样要求不高是可以理解的；


PS：对比试块设置人工反射体的孔径和长度的确参照了脉冲反射法的试块，我想还是有一点意义的--如果全部设置成直径2mm的长孔，要发现不同深度的孔，是否需要将灵敏度调节更高？
TOFD检测技术极限灵敏度是多少？任何超声检测技术都依赖于超声的声场能量及分布，从能量的角度，保证缺陷产生足够被仪器接收的衍射能量是多少？需要激发的能量（即基准灵敏度是多少）？实际检测中，TOFD对一些特殊裂纹类（延迟裂纹？）缺陷、未熔合（有可能受盲区影响，缺陷深度11mm）并不敏感，其原因是什么？TOFD对于微裂纹检出率高吗？
同时，对于测定TOFD工艺检测范围覆盖的相关实验，又有多少人做过？我公司的焊缝动不动就宽60mm左右，即使理论计算覆盖足够，也是心里没底！

强总，我的观点如下：
如果检测要求具有一定的可靠性，主要检测级别为C或D类时，应采用对比试块来验证TOFD扫查的覆盖和灵敏度，适用于以下情形：
1、检测工件的形状为筒体纵缝时；
2、X坡口焊缝需进行偏置扫查时；
3、分多个扫查区域时。

个人观点，仅供参考！

看看逛逛~

luolang1314 发表于 2014-5-27 19:15
另外有一点需要提的是，我公司只购买过一块200mm厚的对比试块，买回来基本上有一年多没有用过。怎么使用当 ...

我不明白标准上为什么规定随着深度增加，孔径变大。如果考虑的是空间分辨力的话，孔径应该随着深度的增加而变小才是啊。或者是因为随着深度的增加，衍射波在衰减，所以需要增大孔径以使衍射波幅变高？
说到tofd的灵敏度，就又得去考虑信噪比了，再小的缺陷，只要衍射信号可以与噪声分辨分别开来，我认为就是可检测出来的。至于考虑到可操作性，需要规定信噪比达到一定的比值。
大于200mm不用对比试块？如果没有直通波你怎么校准仪器？怎么设定灵敏度，用噪声波？谢谢！

大于200mm,可以采用双面检测的方案的。目前，好像只有加氢反应器的壁厚达到200以上，一重在做这个吧！直通波还是有的。你指的是最后一层分层检测吧？超过200mm,设定灵敏度也可以用底波或噪声波的。