关于s扫

S扫描是扇形扫描，包含一个角度范围，如对于直楔块一般为-30度到30度、斜楔块一般为40度到70度。看看下图你可能会明白仪器是如何实现角度偏转并聚焦的。

1000i没有动态深度聚焦的功能，仪器的聚焦只是针对某一特定深度

奥林巴斯的仪器没有动态聚焦的，在聚焦深度选项中输入一定值，在理论上这个就是相控阵S扫的聚焦深度。通常在实际检测过程中用一次波扫查设置一倍板厚，二次波扫查设置2.2倍板厚。

为人民服务 发表于 2013-12-30 21:08
奥林巴斯的仪器没有动态聚焦的，在聚焦深度选项中输入一定值，在理论上这个就是相控阵S扫的聚焦深度。通常 ...

“通常在实际检测过程中用一次波扫查设置一倍板厚，二次波扫查设置2.2倍板厚。”
为什么？有什么根据吗？

糟老头子 发表于 2013-12-31 09:10
“通常在实际检测过程中用一次波扫查设置一倍板厚，二次波扫查设置2.2倍板厚。”
为什么？有什么根据吗？ ...

培训的时候老师将的，呵呵。目前没有相关的标准

为人民服务 发表于 2013-12-31 17:57
培训的时候老师将的，呵呵。目前没有相关的标准

我认为在相控阵检测中，如果不是针对某一个深度进行针对性的检测，应把聚焦深度设置的足够大（例如500mm），以便于声束不会出现明显的在焦距外的衰减情况。

糟老头子 发表于 2013-12-31 21:32
我认为在相控阵检测中，如果不是针对某一个深度进行针对性的检测，应把聚焦深度设置的足够大（例如500mm ...

我测试焦距设置大会影响缺陷的波高。我测试的方法是：采用相控阵B型试块，有一排10mm等深度的横通孔，焦距分别设置到10mm，15mm，30mm，探头不移动，只改变焦距大小，同一横通孔的波高变化比较大的。理论上讲10mm聚焦深度波高最高，30mm聚焦深度波高最小。实际也验证这样的结果，所以我认为检测过程中要合理设置聚焦深度。