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探伤仪纵波斜入射扫查时会出现的情况
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探伤仪纵波斜入射扫查时会出现的情况
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2013-12-2 16:37:59
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第一种情况是没有缺陷波,仅有孤立的底波,无附着杂波,波幅清晰,声压高。判定无裂纹。
第二种情况是当探头沿园周转动时,底波附近无缺陷部位可能出现类似缺陷的较强反射波群,此时除底波反射当量较强外,其它杂波起伏不定,移动探头此起彼伏,无指示长度,变化较大,反射当量偏低,属较明显的点状缺陷反射波,实测证明属瓷件表面波纹或水泥胶结的砂粒透入波。系制造厂将支柱瓷绝缘子插入铸铁法兰时在园周填充灌注的水泥胶与砂粒,这些胶合的砂粒作为过渡加强部分环绕在铸铁法兰与瓷体的交接面上,而此处正是裂纹形成的区域,因此,在超声波扫查时,必须将此波与裂纹波区分开来。搜索到缺陷波时应尽可能与底波同呈,因为同呈时分辨率最高,容易辩认。
第三种情况是缺陷波与底波同呈时,二波信号比<6db,即缺陷波信号低于底波信号,且缺陷波指示长度 <10mm时应判定为表面损伤。>10mm时可判定为裂纹。
缺陷波与底波同呈时,二波信号比基本相等,且指示长度<10mm时判定为点状缺陷,指示长度>10mm时应判定为裂纹。
缺陷波与底波同呈时,二波信号比>6db,既缺陷波信号强于底波信号,且指示长度>10mm时应判定为裂纹。
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