如何理解JB/T4730.10 对比试块厚度分区？

   NB/T47013.10-2010（JB/T4730.10）规定，TOFD对比试块中反射体的形状、尺寸、数量至少应满足附录B（规范性附录）的规定。而在该附录中第B.3 c）这样描述：在每个厚度分区包含2个尖角槽，其宽度最大值为W（见表B.2），长度不小于40mm；或为侧孔，其直径最大值为Dd（见表B.2），长度最小值L和深度有关，见表B.4。    我的问题是：“每个厚度分区”怎么理解？
一、按标准表1中检测分区数理解共有5个厚度分区：50mm以下、50-100mm、100-200mm、200-300mm、300-400mm
    如果是这样，对于厚度为62mm的对比试块，尖角槽或侧孔的加工位置深度为0-50mm的1/4处即12.5mm处、3/4处即37.5mm处各加工一个反射体，50-62mm的1/4处即53mm处、3/4处即59mm处各加工一个反射体，共4个。
    如此一来，加上B.3的a）、b）款要求，该试块需要加工6个人工反射体。
二、按标准表1中的深度范围来理解，对于厚度为62mm的对比试块，尖角槽或侧孔的加工位置深度为0~2/5T（0~24.8mm）、2/5T~T（24.8~62mm），则在24.8mm的1/4（6.2mm）处、3/4（18.6mm）处以及62mm的1/4（34.1mm）处、3/4（52.7mm）处各加工4个人反射体。
    如此一来，加上B.3的a）、b）款要求，该试块也需要加工6个人工反射体。
    以上哪种理解对？还是有别的理解？请各位专家指导。

只有人看，没有人回答吗？

国内对TOFD试块的认识有一点乱，包括对比试块和模拟试块，都是如此。
关于对比试块的厚度，厚一点或薄一点，都是可以用的。孔的位置，在24mm、25mm，或是28mm，也都可以用的。各项尺寸并不要求那么精确，只要能有效地进行校准就可以。

首先，感谢强总！另外，请教：
    前几天我在设计T=62mm的平面对比试块时，按附录B.3，设计了3个同一侧的侧孔：
a  15.5mm处一个长45mm的Φ2.5mm侧孔；
b  31.0mm处一个长60mm的Φ3.0mm侧孔；
c  46.5mm处一个长75mm的Φ4.5mm侧孔。
另外一侧4mm处设计了一个长300mm的Φ2.0mm侧孔
及中心设计了一个长50mm宽0.5mm深2mm的开口槽。

这样的设计符合要求吗？

这样的话，a、b、c侧孔无论从哪一面来探测，深度是一样的：
a  15.5mm处一个长45mm的Φ2.5mm侧孔；则从另一面探其深度为62-15.5=46.5mm同c。
b  31.0mm处一个长60mm的Φ3.0mm侧孔；则从另一面探其深度不变为31.0mm。
c  46.5mm处一个长75mm的Φ4.5mm侧孔。则从另一面探其深度为62-46.5=15.5mm同a。
这样是否满足要求？是否合理？

如下图：

Xcb先生提的问题，恰是JB/T4730.10标准的一个疏漏，提得好！。因为该标准没有任何一个地方标明“厚度分区”怎么规定，按表1第一列“工件厚度”来理解，它分了七个区；表1第二列标的是“检测分区数”，也不是厚度分区数，按它来理解是五个分区。其它，同意强总意见。另外，我也希望读者朋友多就工作中遇到的问题或对某篇博文、帖子发表些意见，对与错，都没什么关系。

谢谢李先生！
同时希望更多的专家学者参与讨论！
期待ing......

强总说的对，深度精度不是要绝对要精确，在标准规定附近好测量加工就行！

在TOFD校验中，除了灵敏度设定外，应更加检测级别要求进行相应的校验或验证，如：
1、采用标准试块，通过已知精确厚度进行深度校准，一般薄板要求进度小于0.5mm；
2、采用对比试块（与被检测厚度相当，具体按照被执行标准规定）进行扫查验证上下表面盲区、分区的覆盖和相应孔或槽等参考反射体的信号；
3、根据标准要求，按照要求对模拟试块进行扫查，通过要求显示最小缺陷（主要按照ASME CASE 2235）进行缺陷检出能力验证。