双晶探头的表面回波高度或者说表面泄露回波高度如何测

JB/T4730.3附录A提到双晶探头的表面回波高度，而GB/T2970 附录A提到表面泄露回波高度。从介绍看应该是一个，都是表面回波高度与最大回波高度低40dB，请问，表面回波高度如何测？大侠请帮助。谢谢！

期待答案

没测过但是应该是用 给定试块  测10mm 5.6的最大回波    然后测定表面界面回波     两个波高差大于40dB   
界面回波的测定我觉得就是个估测，因为不像tofd检测有明显直通波   

还是期待有高人真正做过的  给个答复     如果有标准答案了   麻烦告诉我一声

无论是4730中的表面回波高度还是2970中的泄露回波高度，都是一个意思。是指双晶直探中由于隔声层不能完全隔绝声波的扩散，总会有很小一部分声波直接从发射晶片传播到接收晶片，被显示在屏幕上，对应的近表面声程位置有回波显示。关于标准规定的40db，是指探头在焦点深度处的回波和泄露回波达到同一波高时的分贝差要大于40db。这个数值越大，说明隔声效果越好，探头质量越好，反之就越差。这个回波很难避免，换句话说，这是探头的一个固有噪音信号。如果探头质量不好，泄露回波高度会比较高，容易和近表面区域的缺陷回波混肴，不易甚至是无法区分造成漏检。因此标准用40db衡量探头质量好坏。

我也正好遇到这个问题 ，我想问双晶斜探头用哪个试块做曲线，确定灵敏度，