关于锻件外圆斜探头检测

本人在锻件检测中发现：外圆用(2.5M，4M)斜探头检测时光洁度低的情况下R≤12.5近表面的杂波比较多，感觉不好探，请问外圆光洁度多少适合检测

与频率、晶片尺寸、耦合剂类型和耦合压力有关！以上情形采用低频探头进行检测。

标准上超声检测一般要求表面光洁度Ra不低于6.3 微米。

可以考虑软膜、低频探头进行检测。

我感觉和光洁度关系不是太大吧，主要是曲率、耦合效果等因素影像的。

1：主要是曲率，你可以使用小晶片探头检测。
2:查锻件正火没有。