关于JB/T 4730.3-2005中有关缺陷测高方法的疑问

      这个帖子的题目，是铁匠老板先生使用的。为了引起更多朋友关注和参与讨论，我将它在此发表，并按我的理解提出了问题。JB/T 4730.3-2005附录I、J、K上给出了三种缺陷测高方法，分别是：端点衍射波法、端点最大回波法和6dB法。我的问题是:      
    1)不论什么缺陷都可以用这三种方法测高么？   
    2)测量结果会一致么？

1)不论什么缺陷都可以用这三种方法测高么？  
每种方法有具体的适用条件，比如端点衍射波法主要用于面状不连续的精确测长，但与测量人的技巧关系很大。
2)测量结果会一致么？
结果相当来说端点衍射法和波型转变法的精度最高，其它的方法次之。

问题：我们标准罗列了这些方法，为何不写明相应的使用条件？如果同样执行该标准，不同的人、不同的公司、使用不同的方法测得的长度不同，可能结论会相差很大，如何处理？

超声波测缺陷高度，难道较大，复测的统一性也较差，用TOFD会比较准确，且可记录