超声波参考试块

根据EN583-2（如图片所示），横孔的孔径应该满足D>1.5λ，那：CSK-IIIA试块上的参考反射体φ1×6，孔径是不是不符合该标准的？
问题2：EN583-2中，斜探头的Deff怎么计算的，不然e>2×λ×S÷Deff怎么应用？

SDH英文为side-drilled hole,中文翻译为横孔。

问题1:CSK-IIIA试块，使用对象是斜探头（横波），不适用直探头（纵波），而EN583-2的设计要求，是直/斜探头都使用的，现在GB/T11345-2013已经引用EN583-2。
斜探头（横波 钢）：1.5×（3.255÷5）=0.9765mm＜1
                              1.5×（3.255÷2.5）=1.953mm＞1
所以CSK-IIIA试块，用5MHz以上的横波斜探头是满足的。


问题2：Deff是晶片的有效直径，e＞2×λ×S÷Deff是有半扩散角公式推导得出的。又矩形晶片有左右和上下两种半扩散角，这里用的是左右半扩散角，在由于实际晶片宽度等于有效声源宽度，所以Deff=矩形晶片宽度。

胡宏宇 发表于 2015-9-16 15:07
SDH英文为side-drilled hole,中文翻译为横孔。

问题1:CSK-IIIA试块，使用对象是斜探头（横波），不适用直 ...

谢谢解答。只不过在学校学习时，老师只说了CSK-IIIA试块在国外是没有的，国外都是φ3的横通孔，但学校里面却用2.5P8×9的横波探头在CSK-IIIA试块上做DAC曲线，然后检测对接焊缝，而且效果貌似还不错。根据您说的，那CSK-IIIA试块只适合5MHz及其以上的探头使用？

CSK-IIIA要满足EN583-2的设计要求检测，用5MHz以上，学校里面却用2.5P8×9的横波探头在CSK-IIIA试块上做DAC曲线，就是不满足EN583-2的设计要求。
本身CSK-IIIA与EN583-2没关系的，CSK-IIIA是短横空，远场区相当于平底孔，而EN583-2的设计要求，SDH英文为side-drilled hole,准确理解是长横孔。
所以CSK-IIIA试块只适合5MHz及其以上的探头使用是不对的。

胡宏宇 发表于 2015-9-17 05:33
CSK-IIIA要满足EN583-2的设计要求检测，用5MHz以上，学校里面却用2.5P8×9的横波探头在CSK-IIIA试块上做DAC ...

我想表达的是：设计参考试块是不是根据EN583-2来设计就可以了？是否还需要考虑其他条件，如侧面或底面干涉？（因为我发现EN583-2好像没考虑底面干涉，）如果只根据EN583-2来设计，那CSK-IIIA试块中的反射体是否设计合理？

什么学校？瞎搞的

CSK-IIIA试块中的Φ1*6短横孔是根据Φ2平底孔计算出来的！是中国的前辈在超声波检测领域的发明创造，已经使用了几十年，实际证明效果不错。横孔和短横孔不是一个概念。

王绪军 发表于 2015-9-18 23:43
CSK-IIIA试块中的Φ1*6短横孔是根据Φ2平底孔计算出来的！是中国的前辈在超声波检测领域的发明创造，已经使 ...

谢谢解答。那是否可以理解成，远场中，CSK-IIIA试块上的φ1×6短横孔相当于平底孔φ2？

Xueliang 发表于 2015-9-18 17:28
什么学校？瞎搞的

学校不差，应该是我学艺不精

这是一个有趣的话题。支持楼主。