关于缺陷“半波法”测长

UT检测发现缺陷后都是要测缺陷长度的。首先是要找到缺陷最高波；把缺陷回波降到显示屏内后再降低6DB来测长。请教各位如此操作有的缺陷回波已降了十几个DB了。这样测出的长度是不是把一部分缺陷漏掉呢？

超声显示的测长方法有很多种，比较方便的是半波法或端点半波法，其它还有精确的20分贝法、10分贝法、评定线测长法，但检测人员应明白所使用测长方法的局限性和适用性，否则？
具体我们得分析所检测工件中可能的缺陷类型及显示的动态特征，然后依据需要检测的重要缺陷，制定合适的测长方法，一般是3级人员的职责！

你的理解有误，6dB法不是下降6B，是将最高回波的降低到基准波高，然后提高6dB，此时最高回波超出满屏，然后平移探头，找端点，当最高波降低到基准波高时，为端点，另一端也是这样。或者是最高回波达到基准波高后，什么按钮都不动，平移探头，当最高波降低到基准波高的一半时，即为端点，另一端也是这样。

nde7225030 发表于 2014-3-14 13:19
你的理解有误，6dB法不是下降6B，是将最高回波的降低到基准波高，然后提高6dB，此时最高回波超出满屏，然后 ...

你的理解来自？

实践操作

丁伟臣 发表于 2014-3-14 16:06
你的理解来自？

培训教材，及实践操作

nde7225030 发表于 2014-3-14 13:19
你的理解有误，6dB法不是下降6B，是将最高回波的降低到基准波高，然后提高6dB，此时最高回波超出满屏，然后 ...

有什么区别吗？

不什么区别但提高6dB时波高高一些判断降低到基准波高时误差小一些。