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纵波双晶直探头零偏测试，不会出现楼主所说的情况；高级数字机一般可以选择峰值模式、前沿模式等测量。一般数字机闸门读取采用的是前沿模式测量。无论采用哪种模式测量，只要模式不变，对检测的影响很微小。
纵波双晶直探头零偏测试应注意方法，同时注意一次回波后变型回波以及声速测试。
个人感觉调试零偏和声速后，最好用另外一个试块校核一下。

{:soso_e194:}

枫林晚 发表于 2013-12-31 11:43
看你仪器测试时的读取回波的模式，国内仪器一般都是峰值模式（个人估计，不知道是否有误），也就是最高波， ...

层主说的情况峰值模式是单晶探头只有主声束发生反射才是最高波，那样的话零偏肯定是固定的。
现在双晶探头发现缺陷的时候并不一定是主声束反射了反射

luolang1314 发表于 2013-12-31 13:16
纵波双晶直探头零偏测试，不会出现楼主所说的情况；高级数字机一般可以选择峰值模式、前沿模式等测量。一般 ...

层主您好，我的意思是校正零偏的时候可能是主声束发生了反射被接收晶片接收，这样的话仪器记录的零偏就是主声束往返有机玻璃的时间
实际检测的时候因为并不一定是主声束发生反射
如附件，不知道我表述的是否清楚

枫林晚 发表于 2013-12-31 11:43
看你仪器测试时的读取回波的模式，国内仪器一般都是峰值模式（个人估计，不知道是否有误），也就是最高波， ...

层主您好 我画了图说了一下自己的困惑，在下层 不知道我表述的是否清楚

看了六楼的图片，终于明白你指的是什么了。
由于双晶探头的声学特性，在距离校准过程中，随着材料厚度的减小，会出现非线性。而多数超声波探伤仪中没有V声程修正功能。建议你在进行距离校准时，使用一个能够覆盖所有检测范围的阶梯试块。在解读范围以外的读数时，应格外谨慎！
另外在你用薄试块校准双晶探头零位时，建议把增益调的很大，以便于底面回波的上升沿基本垂直，参考附件照片。

糟老头子 发表于 2013-12-31 16:24
看了六楼的图片，终于明白你指的是什么了。
由于双晶探头的声学特性，在距离校准过程中，随着材料厚度的减 ...

多谢了 我不明白的应该就是这里 有了V声程修正就可以解释了{:soso_e183:}

天空 发表于 2013-12-31 14:00
层主您好 我画了图说了一下自己的困惑，在下层 不知道我表述的是否清楚

你这是声线模型，与实际声束路径是不同的；的确存在你所讲的零偏漂移现象，但其主要原因不是由于图示声束路径不同产生的。
而是声场、声压与距离或声程的非线性原理引起的。不仅纵波双晶直探头会有这个现象，单晶直探头、单晶斜探头、纵波双晶斜探头都存在这个现象--不同厚度或声称的试块或人工反射体校核的零点不同（不能排除耦合、温度、探头压力等因素影响）。其零偏漂移还与仪器、探头组合的电子稳定性、探头的回波形态、频散特性等有关。其误差范围一般在零点几微秒，不会影响检测定位。你的图示放大了这个影响。纵波双晶直探头声速和零偏的校核不确定因素较多，因零漂引起定位误差一般是可以接受的(除非定位误差达到2mm以上）

luolang1314 发表于 2013-12-31 17:36
你这是声线模型，与实际声束路径是不同的；的确存在你所讲的零偏漂移现象，但其主要原因不是由于图示声束 ...

我也没见过那一款超声波探伤仪有v声程修正的功能，但我见过有的测厚仪有这个功能（如olympus的38DL），它可以对双晶探头的非线性进行“多点校准”来弥补V声程导致的深度测量误差。
注：这不是声速导致的误差，而是因为两个晶片在深度方向所对应的深度是非线性导致的。