关于双晶探头的使用，望各位师傅给我解惑。

  以前没有使用过双晶探头，网上相关的资料也比较少，比较模糊，希望有经验的前辈指点迷津。
  1、双晶探头存在一定的检测盲区，使用对比试块知道探头可探测最浅的平底孔深度，那盲区的问题是否只能最小化，而无办法避免。因为双晶探头的特性，制作DAC曲线时，是采用三点（记得看到过，但是暂时没有探头，无法实验），还是挨个平底孔标记做曲线。
  2、由于探头晶片与探测面成一定角度，所以在直径大于200mm的厚、薄管件表面是否可用作轴，周两个方向的扫查，还是轴向用斜探头比较好一点。
  3、探头F的选择为板厚T的一半或稍多一点是否合适。
  4、在管材、锻筒件检测中，双晶斜探头的F该如何选择，是否以探头K值对应的声程来确定，其灵敏度调节没有找到标准是说的比较明白的，好像是说，比噪声信号比大1-3MM什么的，不明白。还是也用平底孔对比试块做曲线。
        双晶斜探头是否只能接收菱形区内的缺陷信号，二次波的就接收不到了，也就是说外表面的缺陷就检测不到了。
        另外，锻筒件轴向扫查时，可以用与工件轴向平行的平底孔做DAC曲线吗？让孔与探头扫查方向平行（筒件）

枫林晚 发表于 2013-9-15 20:17
第一点：双晶直探头的盲区，可以用盲区试块实测，或者有其他的有效的试块实测；至于做DAC曲线要测多少个点 ...

谢谢，{:soso_e142:}

回答真详细学习了

{:soso_e100:}

{:soso_e179:}，值得学习。

原来是这样啊

{:soso_e163:}

枫林晚 发表于 2013-9-15 20:17
第一点：双晶直探头的盲区，可以用盲区试块实测，或者有其他的有效的试块实测；至于做DAC曲线要测多少个点 ...

双晶探头和普通直探头有什么不同呢？还请专家详解，谢谢！

{:soso_e163:}

学习了