各位专家看看这二张图

材料为15CrMoR的，74mm后，分2组扫查，第一组PCS=110，探头型号7.5MHZ,70度，组二PCS=222，探头型号5MHZ;60度。直接用工件调的灵敏度，由于没带试块，如果按照直通波调节满屏的40%~80%，则晶粒波则达到满屏的20%~30%。导致图谱太亮，缺陷显示不明显。


如果按照晶粒波调节灵敏度，调为满屏的5%~10%的话，直通波的波高只有20%~30%。请问这直通波那么低？

这应该不算是缺陷，热处理后就没有了

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可不可通过优化仪器参数设置来达到满意的结果呢？比如选择带通 平均值 能量等呢？

7.5MHZ   一通道是否合适？  7.5MHZ衰减大   110mm的距离   调制40%~80%FSH   势必噪声加大

不错,学习了.

楼主你好，小弟现在对TOFD进行一些学习，需要一些实际采集到的图像数据， 就是多少行多少列的数据，从仪器中导出来的，最好有近表面缺陷的，如果有麻烦发我一下，610626923@qq.com不胜感激！

不错，有道理，学到了。