对AWS D1.1理解不懂不透的地方（请教高手）

第一，基准灵敏度为1.6mm的孔，50%波高时的dB值。那么当进行扫查检查时，反射波高达到多少%FSH时，需要对缺陷进行进一步探测，多少以下可以不及考虑。就像在DAC曲线中，评定线以下的不计？
第二，在超声验收标准中，A级为小于5，B级为6，C级为7,D级为大于8,那么我想问，是不是要对最终计算的d=b-a-c进行四舍五入计算？
第三，我能否做DAC曲线来弥补不同声程下的声束衰减，然后再计算的时候，就不计c的值，因为在距离波幅曲线中已进行修正，对于A级，无论多大缺陷都不合格，那我定义为判废线，在做基准曲线的基础上提高5dB作为判废曲线。这样是否可以？因为我们的机器不具备实时计算衰减c的具体数值，很麻烦？
期待答案，学习。

第一，基准灵敏度为1.6mm的孔，50%波高时的dB值。那么当进行扫查检查时，反射波高达到多少%FSH时，需要对缺陷进行进一步探测，多少以下可以不及考虑。就像在DAC曲线中，评定线以下的不计？按照声程和检测要求，比如动载荷还是静载荷进行增加扫描灵敏度。发现显示按照基础波高显示的增益值进行计算，从而定量
第二，在超声验收标准中，A级为小于5，B级为6，C级为7,D级为大于8,那么我想问，是不是要对最终计算的d=b-a-c进行四舍五入计算？是的
第三，我能否做DAC曲线来弥补不同声程下的声束衰减，然后再计算的时候，就不计c的值，因为在距离波幅曲线中已进行修正，对于A级，无论多大缺陷都不合格，那我定义为判废线，在做基准曲线的基础上提高5dB作为判废曲线。这样是否可以？因为我们的机器不具备实时计算衰减c的具体数值，很麻烦？理论可行，但计算是进行四舍五入的，你的曲线将是台阶式的

丁伟臣 发表于 2013-3-11 14:45
第一，基准灵敏度为1.6mm的孔，50%波高时的dB值。那么当进行扫查检查时，反射波高达到多少%FSH时，需要对缺 ...

谢谢丁工的解答！
第一问题，是不是在基准灵敏度1.6mm孔，50%波高时的dB值，基础上增益14db（声程为小于65），此时作为扫查灵敏度。当缺陷反射波超过50%时，需要进一步考虑其是否满足验收标准。当波高不达到50%FSH时，不考虑那？AWS标准要求尽量使用一次波进行检测，那么我在实际检测时，标准上规定的声程小于65mm，这个声程是不是指一次波得到的声程？
第三个问题：能否有方法将检测过程变得简单，因为设备的原因，需要在检测过程中计算，那么在现场检测是很不方便，需要计算d值。？

第一个问题：声程是按照角度和壁厚计算的结果。提高的扫查灵敏度，实际的定级仍旧采用公式按声程衰减进行确定；
第三个问题：采用EXCEL进行制表

丁伟臣 发表于 2013-3-11 15:38
第一个问题：声程是按照角度和壁厚计算的结果。提高的扫查灵敏度，实际的定级仍旧采用公式按声程衰减进行确 ...

我还是没太明白，那我再基准灵敏度基础上提高14db作为扫查灵敏度，那么反射体波高多少时需要计算d值，不能出现一个反射体，都要进行计算吧？提高14db已经很高了，很多看不见的波都会高于水平基准线。就说，提高扫查灵敏度以后，反射体波高达到多少FSH时需要考虑为相关显示。

由于不同角度不同厚度的评定不一样，好像没有你所需要的简洁方法！
在此扫查灵敏度下，发现显示都需要进行评定的！先定级，后测长！再按表进行评定合格与否！

丁伟臣 发表于 2013-3-11 19:34
由于不同角度不同厚度的评定不一样，好像没有你所需要的简洁方法！
在此扫查灵敏度下，发现显示都需要进行 ...

那现在缩小研究范围，厚度仅为8~30，探头角度为70.那比如实际操作时声程小于65mm，那么我在基准灵敏度基础上，在提高14db作为扫查灵敏度。当缺陷反射波高大于50%屏高时，我将进一步计算其是否满足标准，对于50%屏高以下的波我忽略不计，考虑的角度：因为d=b-a-c,在提高14db时，其实也相当于比基准灵敏度低14db的波不考虑，因为即使衰减c再大，14-c一般都会大于等于8，即为满足标准D级，无论多大都合格。这样将提高14db以后的50%屏高作为平定线。丁工，您看那？

可以如此操作！

用习惯还好！

王绪军 发表于 2013-3-13 09:22
用习惯还好！

请问王老师，关于计算d=b-a-c的问题，在计算时，我是先对c值进行四舍五入再计算，还是先将计算的c值代入公式中，将d的结果进行四舍五入那？这两种不同算法将影响缺陷的评级？