[讨论] 输入TOFD仪器内的PCS值与实际操作时两探头的PCS不一致的影响

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丁伟臣 | 2012-7-9 12:33:20 | 显示全部楼层
由于同一端点的衍射角度发生变化,可能造成衍射图像的局部不同,但绝大部分应相同;由于深度标尺的失效,无法进行测高和测深,故不可用于交工!
伟臣答疑回来啦!
xcb526 | 2012-7-9 12:39:15 | 显示全部楼层
丁伟臣 发表于 2012-7-9 12:33
由于同一端点的衍射角度发生变化,可能造成衍射图像的局部不同,但绝大部分应相同;由于深度标尺的失效,无 ...

是的,受影响最大的是缺陷深度和高度,尤其是高度差别对级别的评定至关重要
xcb526 | 2012-7-9 12:41:12 | 显示全部楼层
本帖最后由 xcb526 于 2012-7-10 12:00 编辑

luolang1314 说:“对于厚度小于100mm的试块,个人建议两通道都要显示直通波和底波”
这一条似乎不太妥吧?!
hdndt | 2012-12-11 09:05:20 | 显示全部楼层
学习了{:soso_e181:}
luolang1314 | 2012-12-12 16:09:13 | 显示全部楼层
以色列设备TOFD检测,对于厚度大于50mm的工件,一般都是采用分次扫查,每一次扫查都会看到直通波和底波。也就国产设备一般采用双通道单次扫查,双通道单次分层扫查,第一层只看到直通波,第二层只看到底波,通过计算的方法仪器BW自动锁定第一层分层线,此分层线前不着村,后不着店,除非用等效厚度校准\对比试块校核,否则没办法进行深度校核以及检查参数设置是否正确。标准规定对于大于50mm的工件采用分层检测,并且两层之间至少覆盖25%.这只是最低要求。层与层之间覆盖的比例完全可以再加大一些。而且面对54mm的工件检测,分两层计算实在是一件没意思的事情。根据ASME标准,75mm以下工件,单通道一般一次扫查就足够,多出的一次扫查不如采用偏置扫查,解决一下较宽焊缝的声束宽度覆盖问题。
luolang1314 | 2012-12-12 16:15:07 | 显示全部楼层
不过,最新的以色列双通道检测设备,引入了分时触发模式,充分解决了双通道之间的相互干扰的问题。不需要采用单次扫查的方式了
始终如意 | 2012-12-20 08:24:16 | 显示全部楼层
学习.......
飞马踏燕 | 2013-1-2 14:20:49 | 显示全部楼层
学习!学习!
飞马踏燕 | 2013-2-1 21:47:39 | 显示全部楼层
学习学习
夜尽天微明 | 2013-2-20 12:09:44 | 显示全部楼层
{:soso_e100:}
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