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测量辐射粒子新型探测器研制获突破

摘要: 北京3月26日电(余建斌、朱丽娟)日前,测量辐射粒子的厚型气体电子倍增探测器THGEM多孔膜板在中国航天科工集团试制成功,其高精度、高密度和在较低工作电压下获得高气体增益的特点将为我国这类新型气体探测器的研发 ...
北京3月26日电(余建斌、朱丽娟)日前,测量辐射粒子的厚型气体电子倍增探测器THGEM多孔膜板在中国航天科工集团试制成功,其高精度、高密度和在较低工作电压下获得高气体增益的特点将为我国这类新型气体探测器的研发跻身国际先进水平奠定基础。

  该新型气体探测器研发项目是国家自然科学基金课题,其中THGEM多孔膜板由中国航天科工集团公司二院699厂承担试制。这类探测器可应用于高能物理核物理研究,X射线和同步辐射应用、宇宙学空间研究、等离子体诊断、核安全防护方面的微剂量检测与利用宇宙线多次散射检测核材料、生物医学成像与对紫外光区灵敏的日盲探测等方面。

  据介绍,THGEM多孔膜板制作工艺在国际上属于前沿技术,目前已试制成功的样板是在5×5平方厘米、厚度仅为0.2毫米的双面覆铜箔板上按“正三角形等距”规范打下数万个直径约为0.2毫米的孔。
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2011-4-3 00:00
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