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日志

RT系列杂记:介绍和分析一个裂纹检出试验(8)

热度 20已有 1107 次阅读2015-2-4 16:32

2.6.2 关于射线照相颗粒度σD研究中的若干问题

1)射线照相颗粒度σD 影响什么样的缺陷检出?

在系列杂记(4)《2.3底片的像质计灵敏度》一文中,我有如下结论:“像质计灵敏度(指试验发现金属丝径Φ=0.2mm0.25mm)与胶片等级---射线照相颗粒度无关,它似乎仅取决于射线照相对比度与不清晰度” 。那么,射线照相颗粒度σD 影响什么样的缺陷检出呢?

这当然是个很重要的问题。然而,RT界对这个问题的讨论却少之又少。笔者在1997年全国RT年会上发表了《关于射线照相颗粒度的探讨》一文,里边提到颗粒度团块的横向尺寸λ(如果将黑度起伏看作一列波的话,λ近似为波长) ,笔者提出计算λ大小的公式:

λ=2Ui                         (1)

式中:Ui---铅箔增感时射线能量决定的固有不清晰度。

而且当时笔者还提出: 当缺陷的横向尺寸---宽度

W≥λ                         (2)

识别条件不受射线照相颗粒度的影响。也就是说,当符合下列条件时,识别条件才受射线照相颗粒度的影响:

       W<λ                           (3)

最近几年,为了使问题简单化,笔者提出: 宽度W小于0.1mm裂纹(包括未熔合) 面状缺陷的检出,才受射线照相颗粒度σD 影响” 论述。因为,只有裂纹或未熔合等面状缺陷才可能有有如此小的宽度W; 气孔和夹渣等体积型缺陷,它们的直径---横向尺寸通常0.1mm,它们的检出与否,主要依靠射线照相对比度和不清晰度,与射线照相颗粒度σD  无关了。

(2) 射线照相颗粒度σD ΔDmin无关么?

笔者认为,射线照相颗粒度σD ΔDmin有关,而且于1997年提出了下列公式:

   ΔD≥ΔDmin+σc              (4)

式中: σc--微观黑度高低起伏差,σc=2σD

(3) 不清晰U不影响裂纹检出么?

笔者认为,当裂纹宽度WU时,不清晰U对裂纹检出还是有影响的,应该用下式统一:

                ΔD.(W/U)--2σD≥ΔDmin                 (5 )

1989年《无损检测》杂志登载我翻译文章《对x射线胶片分类的新结论及其建议》以来,我一直关注这个问题,但苦于没有试验手段,缺乏有力证据,我的一些观点,并不被业界承认。

对我不知好歹地宣传自己的观点,亲人和朋友嘲笑为“痴”


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发表评论 评论 (4 个评论)

回复 大爱人间 2015-2-5 11:26
向梁老师学习,致敬!
回复 Elsa 2016-11-11 16:16
   学习了
回复 zj1978427 2016-12-28 14:53
哎,前辈就是前辈啊,自己也做了十多年的年的检测工作,相较之下方知差距犹如天壤之别.
回复 lzd_800 2018-4-10 21:37
学习了

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