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(1)射线照相颗粒度σD 影响什么样的缺陷检出?
在系列杂记(4)《2.3底片的像质计灵敏度》一文中,我有如下结论:“像质计灵敏度(指试验发现金属丝径Φ=0.2mm或0.25mm)与胶片等级---射线照相颗粒度无关,它似乎仅取决于射线照相对比度与不清晰度” 。那么,射线照相颗粒度σD 影响什么样的缺陷检出呢?
这当然是个很重要的问题。然而,RT界对这个问题的讨论却少之又少。笔者在1997年全国RT年会上发表了《关于射线照相颗粒度的探讨》一文,里边提到颗粒度团块的横向尺寸λ(如果将黑度起伏看作一列波的话,λ近似为波长) ,笔者提出计算λ大小的公式:
λ=2Ui (1)
式中:Ui---铅箔增感时射线能量决定的固有不清晰度。
而且当时笔者还提出: 当缺陷的横向尺寸---宽度
W≥λ (2)
识别条件不受射线照相颗粒度的影响。也就是说,当符合下列条件时,识别条件才受射线照相颗粒度的影响:
W<λ (3)
最近几年,为了使问题简单化,笔者提出: “宽度W小于0.1mm的裂纹(包括未熔合) 类面状缺陷的检出,才受射线照相颗粒度σD 影响” 的 论述。因为,只有裂纹或未熔合等面状缺陷才可能有有如此小的宽度W; 而气孔和夹渣等体积型缺陷,它们的直径---横向尺寸通常≥0.1mm,它们的检出与否,主要依靠射线照相对比度和不清晰度,与射线照相颗粒度σD 无关了。
(2) 射线照相颗粒度σD 与ΔDmin无关么?
笔者认为,射线照相颗粒度σD 与ΔDmin有关,而且于1997年提出了下列公式:
ΔD≥ΔDmin+σc (4)
式中: σc--微观黑度高低起伏差,σc=2σD。
(3) 不清晰U不影响裂纹检出么?
笔者认为,当裂纹宽度W‹U时,不清晰U对裂纹检出还是有影响的,应该用下式统一:
ΔD.(W/U)--2σD≥ΔDmin (5 )
从1989年《无损检测》杂志登载我翻译文章《对x射线胶片分类的新结论及其建议》以来,我一直关注这个问题,但苦于没有试验手段,缺乏有力证据,我的一些观点,并不被业界承认。
对我不知好歹地宣传自己的观点,亲人和朋友嘲笑为“痴” 。