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日志

RT系列杂记:介绍和分析一个裂纹检出试验(7)

热度 14已有 1029 次阅读2015-2-4 11:56

2.6  射线照相颗粒度σD

2.6.1  回答一个问题

前面我们曾提出了这样一个问题:在五次铅箔增感组合中,序号1的射线照相对比度ΔD/mm最小,而它的射线照相不清晰度U1又最大,那么,为什么它的裂纹检出率又最高呢?

这说明:在射线照相对比度ΔD、射线照相不清晰度U之外,还有一个要素,那就是射线照相颗粒度。

欧美学者常用的公式,即缺陷----裂纹可检出时,其对比度与颗粒度的关系如下:

      ΔD. ≥(3—5)σD               1

式中:

ΔD.---- 裂纹的射线照相对比度ΔD。试件中,26条裂纹在9次组合----透照条件下得到的射线照相对比度ΔD,它们是大小不一的,但可以肯定地说,ΔD足够大,或σD足够小,满足公式(1)的时候,裂纹才可被检出;

σD ---射线照相颗粒度,即信息论中的噪声。从现有资料中,可知,富士5080属胶片系统类别T2,富士50胶片实测颗粒度σD约为0.022,富士80胶片实测颗粒度σD约为0.026,富士100属胶片系统类别T3,其实测颗粒度σD约为0.030,富士150200属胶片系统类别T4,其实测颗粒度σD约为0.034—0.039,富士400胶片配荧光增感,其实测颗粒度σD 可能0.040

笔者注: 日本这9次试验的管电压不高于220KV,并不高于测颗粒度σD 测量时使用管电压,管电压对颗粒度σD数值影响不大。

己知,26条裂纹在底片上造成的射线照相对比度ΔD,是大小不一的,富士50号胶片测颗粒度σD 小,满足公式(1) 的机会多,所以,序号1的组合,裂纹检出率最大。

公式(1)右侧为3--5σD,太笼统,既和ΔDmin无关,也和射线照相不清晰度U无关,说明关于射线照相颗粒度的研究、试验,还很不够,还有许多问题、意见、争议,在以后的杂记中,笔者将提出一些问题,并提出个人意见。


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回复 Elsa 2016-11-11 16:17
  

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