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2.3 底片的像质计灵敏度
这9次试验的底片像质计绝对灵敏度,只有“一丝之差”,其中1-4次组合--透照发现丝径为0.2mm,5--9次组合透照发现丝径为0.25mm,相对灵敏度在(1.1~1.4)%之间。按我国JB/T4730.2--2005标准表5规定,母材厚度--透照厚度---公称厚度=16--25mm时,AB级像质,单壁透照,应识别线径号11,线径0.32mm,这9次透照发现的像质计丝径Φ均小于0.32mm,说明单从像质计灵敏度来看,全都符合我国特压标准AB级像质要求。
1) 像质计灵敏度与胶片等级---射线照相颗粒度无关,它似乎仅取决于射线照相对比度与不清晰度;
2)像质计灵敏度符合标准要求,不等于裂纹不漏检;
3)像质计灵敏度和裂纹检出率没有直接对应关系。
按笔者一贯的主张: 当可识别线径Φ大于总不清晰度U,即Φ›U时,金属丝的识别---检出与不清晰度无关了,只决定于
ΔD≥ΔDmin (1)
如果已知Φ是可识别最小线径时,则将公式(1) 改写为:
ΔD=ΔDmin (2)
现在的问题是ΔD怎么计算?
前面表3已列出了对比度计(ΔT=1mm) 测出的ΔD/1mm,那么可识别最小线径Φ的ΔD可用下式计算:
ΔD≈(ΔD/1mm)xΦ (3)
例如,第1次组合,已知: ΔD/1mm=0.14,Φ=0.2mm,代入公式(3)
ΔD≈0.14x0.2=0.028,估计---大约:ΔD=0.028=ΔDmin。