学术争论=摆出试验数据,用正确理论反对错误理论

热度 14已有 870 次阅读2013-1-24 15:13 | 试验

在我的日志《漏磁场》发表后,J先生旋即提了下面三个问题:

    1.在磁饱和的情况下,在有缺陷处,磁力线将如何发生畸变(绕射)呢,即往哪里绕射呢?

    2.如果是曲面工件,由于表面不平行,所以磁力线与工件表面就有夹角,磁力线就会从界面折射出去了么?

    3.实施磁粉检测,磁化程度必须达到磁饱和或接近磁饱和么?接近磁饱和又是多少呢?90%以上?99%以上?99.99%以上?

       并且, 他认为:

漏磁场理论是完全错误的,我的3个提问是分别针对3个产生原因的置疑,因为与磁粉检测的实际不相符合。您的讲解也只是对错误理论的解释,完全是理论对理论的想象,与磁粉检测毫无关系。如果结合磁粉检测的实际,就会发现根本就不能用这个理论去指导磁粉检测(即如何选择磁化)。所以这个理论是不符合实际的,所以是错误的。恕我冒昧。我不是有意与您为难。实际上,最早传播这个理论的那些人,都是我所尊敬的前辈甚至是老师。

我欢迎J先生的提问和提出批评,并希望:

他应该写文章,摆出试验数据,用正确理论来反驳他们(也包括我),来证明: 漏磁场理论是完全错误的,与磁粉检测的实际不相符合,为什么根本就不能用这个理论去指导磁粉检测(即如何选择磁化)?

讲清了这个问题,可能是他对MT基础理论的重大贡献,我的基础理论也望有所提高,这是负责任的学术讨论;如不摆出他的试验,讲不清他的道理,而仍然限于“扣帽子”式空喊,那么,他的这些结论,是不能令人信服的!我期盼J先生有重要文章问世。

学术争论=摆出试验数据,用正确理论反对错误理论。


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发表评论 评论 (6 个评论)

回复 金宇飞 2013-1-25 14:41
J先生对这三个问题是这样表示异议的:
1.在磁饱和的情况下,在有缺陷处,磁力线不可能向内发生畸变(绕射),所以在有缺陷处不存在什么绕射现象。如果是接近磁饱和,如磁饱和的95%,那么在有缺陷处如果真的会发生绕射现象,那么小于厚度5%的缺陷就不会产生漏磁场,这样磁粉检测就检不出来了,但事实并非如此,只要有缺陷,哪怕小于厚度5%,磁粉检测也很有效,也就是很小的缺陷也会形成漏磁场,所以在有缺陷处不存在什么绕射现象。
2.如果是曲面工件,由于表面不平行,所以磁力线与工件表面就有夹角,但是磁力线不见得就会从界面折射出去,所以磁力线从界面折射出去与是否与工件表面形成夹角无关。
3.实施磁粉检测,并不要求计算和记录磁饱和数据,所以磁饱和或接近磁饱和与磁粉检测无关。
所以,J先生就很不负责任地认为:梁老师在〔MT讲稿节选〕漏磁场(下)中介绍的漏磁场产生的三个原因是错误的,因为根本就不能用这个理论去指导磁粉检测(即如何选择磁化)。
回复 丁伟臣 2013-1-25 17:13
漏磁场是特定专业术语,主要指不连续处磁场的重新分布。
关于弯曲表面及饱和工件的磁场分布确实有部分磁场泄漏到工件之外,关键是看有多少的量,能不能形成明显的背景显示。
我们谈及的仅是形象表达不连续对磁场分布的影响,其实际还需考虑的是磁通量和磁路磁阻的关系,即量的关系。在正常的磁化工作区域,磁力线大部分沿着工件传播,即使有部分磁力线离开工件,但由于空气的磁导率其分量极少。在有不连续处,由于不连续的两侧距离较近,可形成一定的通道供磁力线通过,而形成较明显的漏磁场,从而实现磁粉检测!
回复 梁金昆 2013-1-25 18:03
谢谢丁工参与评论!同意丁工的意见!
回复 梁金昆 2013-1-25 18:05
在几天以前,我给金先生这样答复过:
金先生:您好!
1.在饱和状态下,往哪里绕射?想象多个并联支路(包括局部有漏磁的支路),它们会根据磁路定理,自然选择。
2.曲面工件有没有界面折射,视磁化方法而定。采用周向磁化,通常不会发生界面折射。
3.什么才是:接近饱和,基本饱和,饱和?磁场强度H达到哪个点(H1,H2,H3)?新老教材B-H和μ-H曲线上全有标注。
回复 丁伟臣 2013-1-26 09:05
梁金昆: 谢谢丁工参与评论!同意丁工的意见!
前辈安康!新年快乐!
回复 szlinxd 2013-1-26 11:11
都是专家级的对话,迅速围观聆听、学习~~~

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