远东无损检测资讯网

 找回密码
 注册
查看: 493|回复: 1
收起左侧

[讨论] 相控阵

[复制链接]

9

主题

57

帖子

1207

积分

超级会员

Rank: 6Rank: 6Rank: 6Rank: 6Rank: 6Rank: 6

积分
1207

社区QQ达人

发表于 2017-6-10 10:24:36 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 xldw89sy 于 2017-6-10 10:24 编辑

     改行回家了,但还是对这个技术很留恋,毕竟花了很多的心力学习。有几个问题一直在心中,这半年都在想别的,没时间学习相控阵。就把以前想的几个问题列出来,分享给大家。这项技术前景肯定很好,值得大家用心研究。
   1、效率,要提高效率就得增加扫查率,扫查率受到脉冲发射频率的限制,脉冲发射频率由最大角度声程决定,根据检测对像、方法的不同都会存在最大扫查率。
   2、角度步进,角度步进如果转换成扫查步进就很容易发现问题。角度步进是等值的,但是由于声程的增加,扫查步进是在不断增加的。
   3、聚焦,有篇文章写过聚不聚焦的问题。举个例子,5L64的探头,用16晶片,能实现聚焦的范围非常小(书上写过最佳聚焦范围在0.2N—0.8N)其他范围的聚焦都是没用的,和相应角度的斜探头一样,都算是平面的晶片,没有聚焦作用。有条件的可以用试块(专用)去验证,焦点波幅最高,是一个向下开口的抛物线。如果要利用聚焦这一特性,必须要考虑晶片尺寸,频率,检测声程范围。特别要记住0.2N—0.8N这个范围,好像有些模拟可以聚焦到这个范围之外(没有验证过,也可以我看错)。
   没考虑好,就想到这三个方面。问题1,以前想过多组来提高效率;问题2,用二次波覆盖,二次波不同角度间间距有多大,会引出哪些问题;问题3,聚焦点能量集中,但我们要用的声程范围如果大于焦点正负6dB的范围,有没有问题。对于声程跨度比较大的,增益补偿够不够,用合理的聚焦能不能解决?

   还有扫查架对特定结构,检测工艺等。
回复

使用道具 举报

42

主题

1396

帖子

6641

积分

论坛元老

Rank: 8Rank: 8Rank: 8Rank: 8Rank: 8Rank: 8Rank: 8Rank: 8

积分
6641

社区QQ达人

QQ
发表于 2017-7-30 12:04:33 | 显示全部楼层
看完了你写的帖子,非常赞。兄弟你不干了,NDT行业又少了一位人才!
学好无损检测技术,天天向上!
回复 支持 反对

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

联系我们|免责申明|广告赞助|手机版|Archiver|远东无损检测资讯网  

GMT+8, 2017-8-22 21:06 , Processed in 0.113740 second(s), 36 queries .

Powered by Discuz! X3.4

© 2001-2017 Comsenz Inc.

快速回复 返回顶部 返回列表