NB/T47013——答疑解惑

祝彦君 发表于 2015-10-3 10:08
阎老师，超声部分,公司只有CSKIIIA的情况，怎样把灵敏度修正到CSKIIA的灵敏度？标准没讲怎样修正 ...

由于CSK-ⅡA试块和CSK-ⅢA试块灵敏度曲线之间的差异随探头晶片尺寸。标称频率、K值的不同而有变化，故标准未给具体数值，这要求检测人员根据所用探头进行测试。谢谢。

877910715 发表于 2015-10-3 16:52
由于CSK-ⅡA试块和CSK-ⅢA试块灵敏度曲线之间的差异随探头晶片尺寸。标称频率、K值的不同而有变化，故标 ...

由于CSK-ⅡA试块和CSK-ⅢA试块灵敏度曲线之间的差异随探头晶片尺寸、标称频率、K值的不同而有变化，故标准未给具体数值，这要求检测人员根据所用探头进行测试。谢谢。

877910715 发表于 2015-10-3 09:44
谢谢
20mm和45mm分别指板材厚度或锻件检测方向上的厚度。在此厚度范围内用双晶直探头进行检测，主要是探 ...

对于老师们这么及时解答我的疑问，在此表示衷心的感谢！并向假日里仍然工作老师们致以崇高的敬礼，并祝节日愉快！

877910715 发表于 2015-10-3 09:35
按5.4.7.1的规定，应评为1级。

既复合板坡口边缘和预订线两侧的未结合区域的单个缺陷的长度评定只有1,和4级，没有2和3级，谢谢

祝彦君 发表于 2015-10-2 16:53
强总，您好，向您讨教个问题，有很多朋友提出新标准射线附录F小于R的那公式有错误，从三角形的正弦定理推导 ...

F小于R内部透照时，定位标记放置于射线源侧。标准中关于F小R时透照次数的计算公式是正确的，应是内径，不是外径，推导比较复杂，具体的推导过程见附件。

NB/T47013.4中：4.12.4 反差增强剂
    为增强对比度，经标准试片验证显示合格后，可以使用反差增强剂。
    我们知道，如同本标准4.11.1条款中所说，标准试片是检验磁粉检测设备及磁粉和磁悬液的综合性能（系统灵敏度）。它不是检验被检工件的“检测灵敏度”，换言之，这个系统灵敏度与工件本身或工件的表面状态无关。
    使用反差增强剂后，应该说是改变了工件的表面状态或对比度，也就是它只与工件灵敏度或工件表面的磁场状况相关，而不是与系统灵敏度相关。试片验证显示合格后，就可使用反差增强剂无理论支持。
    因此本人觉得此处应该还是05版标准3.11.1条的规定更为符合磁粉检测的基本理论：如果被检工件表面残留有涂层，当涂层厚度均匀不超过0.05mm，且不影响检测结果时，经合同各方同意，可以带涂层进行磁粉检测。
   包括4.12.1条，对非导电涂层使用标准试片验证的作用及效力，也是同样一个道理，有同样疑问。
   若有不当之处请各位专家斧正。

谢谢朱工，够仔细的，一步一步推导，推导是一样的，我们把f搞错了，其实它的定义是射线源到工件表面距离，不是到胶片距离。

现在新标准里有个操作指导书，是不是老的工艺卡模版就不要了，要重新编制操作指导书模版了，望专家指教

祝彦君 发表于 2015-10-5 18:40
现在新标准里有个操作指导书，是不是老的工艺卡模版就不要了，要重新编制操作指导书模版了，望专家指教 ...

从标准的角度，对操作指导书的格式或模版没有强制规定，以工艺卡或者其他形式均可，但相关的内容和要求应满足NB/T 47013标准各部分对操作指导书的要求。

老师您好，NB/T47013 .1通用要求中4.3.1.2采用射线检测，超声检测，衍射时差法超声检测和X射线数字成像检测等无损检测方法检测对接焊接接头时，。。。。。。。。。。。。。将其检测技术等级分为若干级别。在哪里能查到衍射时差法超声检测的技术等级啊